[发明专利]一种绝缘体上材料的制备方法有效
申请号: | 201510532134.2 | 申请日: | 2015-08-26 |
公开(公告)号: | CN105140171B | 公开(公告)日: | 2018-06-29 |
发明(设计)人: | 狄增峰;贾鹏飞;薛忠营;陈达;马骏;张苗 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L21/762 | 分类号: | H01L21/762 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种制备绝缘体上材料的方法,包括以下步骤:S1:提供一衬底;S2:在所述衬底表面依次外延第一材料层、硼掺杂第一材料层及第二材料层;S3:重复步骤S2至少一次;S4:进行离子注入,使离子注入到最远离所述衬底的所述第一材料层中;S5:提供一表面形成有绝缘层的基板,将所述绝缘层与位于顶层的第二材料层键合,形成键合片;S6:对键合片进行退火处理,使位于离子注入层上的所述硼掺杂第一材料层吸附离子形成微裂纹而剥离,得到绝缘体上材料。本发明中,所述衬底可以重复利用,从而降低了生产材料成本,并简化了工艺流程;且离子注入剂量更低,有利于提高晶体质量,减少注入成本;本发明得到的绝缘体上材料表面非常光滑,无需抛光。 | ||
搜索关键词: | 绝缘体 第一材料 衬底 绝缘层 第二材料层 键合片 硼掺杂 制备 离子 离子注入剂量 离子注入层 表面形成 衬底表面 离子形成 生产材料 退火处理 重复利用 工艺流程 抛光 微裂纹 顶层 基板 键合 吸附 光滑 剥离 重复 | ||
【主权项】:
1.一种制备绝缘体上材料的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:提供一衬底;S2:在所述衬底表面依次外延第一材料层、硼掺杂第一材料层及第二材料层;S3:重复所述步骤S2至少一次;S4:进行离子注入,使离子注入到最远离所述衬底的所述第一材料层中;S5:提供一表面形成有绝缘层的基板,将所述绝缘层与位于顶层的所述第二材料层键合,形成键合片;S6:对所述键合片进行退火处理,使位于离子注入层上的所述硼掺杂第一材料层吸附离子形成微裂纹,使所述键合片从所述硼掺杂第一材料层处剥离,得到自下而上依次包括基板、绝缘层及第二材料层的绝缘体上材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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