[发明专利]高可靠性巨型回转支承零件轮廓的就地精密检测仪在审
申请号: | 201510532215.2 | 申请日: | 2015-08-26 |
公开(公告)号: | CN105043295A | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 陈建敏;孙宪政 | 申请(专利权)人: | 上海泰勒精密仪器制造有限公司 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 | 代理人: | 刘常宝 |
地址: | 201315 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了高可靠性巨型回转支承零件轮廓的就地精密检测仪,该检测仪中的触针组件包括测杆、测杆座、触针以及弹簧夹,所述测杆座上沿其轴向开设有测量杆安置槽,沿其径向开设有限位槽,所述测杆上设置有定位销,该测杆位于测杆座的安置槽中,其上的定位销与测杆座上的限位槽相配合,该测杆的底端通过转轴与测杆座相接,测杆的顶端沿安置槽伸出测杆座并连接触针;所述弹簧夹一头与测杆座相连,另一头压住测杆。本发明通过特定的触针组件,有效避免触针在受到冲击时使核心组件传感器受到损伤,保证整个精密检测仪的可靠性和测量精度。 | ||
搜索关键词: | 可靠性 巨型 回转 支承 零件 轮廓 就地 精密 检测 | ||
【主权项】:
高可靠性巨型回转支承零件轮廓的就地精密检测仪,该检测仪包括驱动机构、与驱动机构相接的测量机构以及控制驱动机构和测量机构的控制处理装置,其特征在于,所述测量机构包括直线光栅系统、圆端面光栅系统以及触针组件,所述直线光栅系统受控于控制处理装置,并通过触针组件记录被测零件轴向位移量,所述圆端面光栅系统受控于控制处理装置,并通过触针组件记录被测零件径向位移量;所述触针组件包括测杆、测杆座、触针以及弹簧夹,所述测杆座上沿其轴向开设有测量杆安置槽,沿其径向开设有限位槽,所述测杆上设置有定位销,该测杆位于测杆座的安置槽中,其上的定位销与测杆座上的限位槽相配合,该测杆的底端通过测杆座与转轴相接,测杆的顶端沿安置槽伸出测杆座并连接触针;所述弹簧夹一头与测杆座相连,另一头压住测杆。
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