[发明专利]非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置及测量方法，属于非线性光子学材料和非线性光学测量技术领域中非线性光子学材料的光学非线性测量装置和测量方法。本申请采用Tophat型激光脉冲作为探测光，根据待测样品厚度选择适当厚度的参考标准样品，分别对参考标准样品和待测样品进行Z扫描测量，调节入射光能量得到相同的归一化透过率峰谷值，再通过数据处理得到待测样品的非线性折射系数。本申请可适用于厚度超过瑞利长度的非线性光子学材料的光学非线性测量装置和测量方法。

主权项

一种非线性厚光子学材料的光学非线性测量装置，其特征在于：包括入射光路、测量光路、监测光路、衰减器(13)、CCD探测器(14)和计算机(15)，所述入射光路包括依次设置的可调能量激光器(1)、二分之一波片(2)、偏振片(3)、透镜I(4)、透镜II(5)、小孔I(6)和分束器(7)，所述可调能量激光器(1)产生的入射激光依次经二分之一波片(2)、偏振片(3)、透镜I(4)、透镜II(5)、小孔I(6)和分束器(7)后由分束器(7)分成两束激光，其中一束激光作为测量光进入测量光路，另一束激光作为监测光进入监测光路；所述测量光路包括依次设置的透镜III(9)、电动平移台(11)和小孔II(12)，所述电动平移台(11)上放置有可沿Z方向移动的待测样品(10)或参考标准样品，所述测量光依次经透镜III(9)、待测样品(10)或参考标准样品、小孔II(12)后从小孔II(12)中射出测量光路；所述监测光路包括反射镜(8)，所述监测光经反射镜(8)反射后射出监测光路；经测量光路射出的测量光和经监测光路射出的监测光均通过衰减器(13)入射至同一CCD探测器(14)并在CCD探测器(14)上得到一系列测量光斑和监测光斑；所述CCD探测器(14)与计算机(15)电连接，所述CCD探测器(14)上得到的测量光斑和监测光斑传输至计算机(15)。