[发明专利]基于两点定位的机体结构测量方法

摘要

本发明公开了一种基于两点定位的机体结构测量方法，包括在测量地选择测量过程一直可见的两个固定点；架设全站仪；在全站仪坐标系中测量固定点的坐标；在机身中轴线水平面为含X和Y轴的平面坐标系，垂直水平面作Z轴，得机体坐标系；计算机体坐标系转换系数；测待测点在全站仪坐标系中坐标，与机体坐标系转换系数得在机体坐标系中的坐标；移动全站仪至可测其余待测点的位置，测量固定点在当前全站仪坐标系中的坐标，计算全站仪坐标系转换系数，测其余待测点在全站仪坐标系中的坐标，结合全站仪坐标系与机体坐标系转换系数得在机体坐标系中的坐标，根据所有测点在机体坐标系中的坐标得机体结构。本发明方法简单，处理速度快且无需专业人员操作。

主权项

一种基于两点定位的机体结构测量方法，包括以下步骤：步骤一、在机体测量场地周围选择在测量过程中一直可见的两个固定点；步骤二、架设全站仪，调整所述全站仪的高度，确定所述全站仪坐标系；步骤三、在所述全站仪坐标系中依次测量所述固定点的坐标；步骤四、选定机身中轴线上的一点作为坐标原点，以所述机身中轴线所在水平面为包含X轴和Y轴的平面坐标系，通过所述坐标原点垂直所述水平面的坐标轴作为Z轴，构建机体坐标系；步骤五、根据计算获得机体坐标系转换系数：设第一检测点与第二检测点为机身中轴线上的两点，将所述第一检测点作为所述机体坐标系的坐标原点，设第一检测点在所述全站仪坐标系中的坐标为(x1,y1,z1)，第二检测点在所述全站仪坐标系中的坐标为(x2,y2,z2)，坐标偏移量为offsetX，offsetY，offsetZ，偏转角为α，则有：offsetX=x1offsetY=y1offsetZ=z1]]>步骤六、测量所述全站仪可视范围内的待测点，获得所述待测点在所述全站仪坐标系中的坐标，根据所述待测点在所述全站仪坐标系中的坐标与所述机体坐标系转换系数获得所述待测点在所述机体坐标系中的坐标；步骤七、移动所述全站仪至可测量到所述机体的其余待测点的位置，使用所述全站仪测量所述固定点的坐标获得所述固定点在当前全站仪坐标系中的坐标，根据所述固定点在当前全站仪坐标系中的坐标与所述步骤三中获得的坐标计算获得全站仪坐标系转换系数，使用所述全站仪测量其余待测点在所述全站仪坐标系中的坐标，结合所述全站仪坐标系转换系数与所述机体坐标系转换系数获得其余待测点在所述机体坐标系中的坐标，最终根据所有待测点在所述机体坐标系中的坐标构建机体结构。