[发明专利]一种基于灰度均值分析的玻璃瑕疵分类方法在审
申请号: | 201510535357.4 | 申请日: | 2015-08-27 |
公开(公告)号: | CN105044119A | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 李明英 | 申请(专利权)人: | 李明英 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G06K9/62 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 264211 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于灰度均值分析的玻璃瑕疵分类方法,该方法包括:1)提供一种基于灰度均值分析的玻璃瑕疵分类装置,所述分类装置包括玻璃传送结构、图像检测机构、FPGA芯片和DSP芯片,所述玻璃传送结构用于逐块滚动各块待检测玻璃到图像检测机构下,所述图像检测机构用于对待检测玻璃块进行数据采集以获得玻璃采集图像,所述FPGA芯片和所述图像检测机构连接,用于对所述玻璃采集图像进行图像预处理操作,以获得预处理玻璃图像,所述DSP芯片与所述FPGA芯片连接,用于对所述预处理玻璃图像执行灰度均值分析以确定待检测玻璃块中的瑕疵类别;2)使用所述分类装置来进行分类。本发明能够根据瑕疵的灰度特性智能化地识别出待检测玻璃块中的各种瑕疵。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 灰度 均值 分析 玻璃 瑕疵 分类 方法 | ||
【主权项】:
一种基于灰度均值分析的玻璃瑕疵分类方法,该方法包括:1)提供一种基于灰度均值分析的玻璃瑕疵分类装置,所述分类装置包括玻璃传送结构、图像检测机构、FPGA芯片和DSP芯片,所述玻璃传送结构用于逐块滚动各块待检测玻璃到图像检测机构下,所述图像检测机构用于对待检测玻璃块进行数据采集以获得玻璃采集图像,所述FPGA芯片和所述图像检测机构连接,用于对所述玻璃采集图像进行图像预处理操作,以获得预处理玻璃图像,所述DSP芯片与所述FPGA芯片连接,用于对所述预处理玻璃图像执行灰度均值分析以确定待检测玻璃块中的瑕疵类别;2)使用所述分类装置来进行分类。
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