[发明专利]由单粒子翻转率预计单粒子故障率的方法及系统有效
| 申请号： | 201510536364.6 | 申请日： | 2015-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN105718622B | 公开（公告）日： | 2018-11-09 |
| 发明（设计）人： | 王群勇;陈冬梅;陈宇 | 申请（专利权）人： | 北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 100089 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种由单粒子翻转率预计单粒子故障率的方法及系统，以解决如何根据单粒子翻转率预计单粒子故障率的问题。该方法包括：S1、确定电子器件中每一功能模块的单粒子翻转率、时间降额因子及逻辑降额因子的大小；S2、计算每一功能模块的单粒子故障率；S3、将所述电子器件中所有功能模块的单粒子故障率之和作为所述电子器件的单粒子故障率。本发明计算得到的电子器件的单粒子故障率是在单粒子翻转率的基础上利用时间降额因子和逻辑降额因子进行修正得到的，相对于现有技术中的试验统计归纳方法和利用工程经验定性分析方法，本发明的定量计算方法工作量大大减小，更简单、易实现。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 翻转 预计 故障率 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种由单粒子翻转率预计单粒子故障率的方法，其特征在于，包括：S1、确定电子器件中每一功能模块的单粒子翻转率、时间降额因子及逻辑降额因子的大小，其中，所述时间降额因子为在一个时钟周期内功能模块的单粒子翻转变化能够被记录的时长的比例，所述逻辑降额因子为所述功能模块内被记录的单粒子翻转变化导致该功能模块发生单粒子故障的概率，所述单粒子翻转变化指的是由单粒子翻转效应引起的状态的变化或跳变；S2、根据相应功能模块的所述单粒子翻转率、所述时间降额因子及所述逻辑降额因子的大小，计算所述相应功能模块的单粒子故障率；S3、将所述电子器件中所有功能模块的单粒子故障率之和作为所述电子器件的单粒子故障率。
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