[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201510536660.6 | 申请日: | 2015-08-27 |
公开(公告)号: | CN105388949B | 公开(公告)日: | 2019-10-15 |
发明(设计)人: | 野口宏一朗;野濑浩一;池永佳史;吉田洋一 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | G05F1/56 | 分类号: | G05F1/56 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种半导体装置。根据一个实施例,半导体装置包括:第一开关(SWx),其切换是否供应通过积累电源(10)输出的电荷而产生的第一电源电压(Vx),作为至第一电路(13)的第二电源电压(VDD);以及第二开关(SW1),其切换是否将抑制第二电源电压(VDD)波动的平滑电容器(C1)连接至第一电路(13),并且第一开关(SWx)响应于第一电源电压(Vx)已经达到足够的电压而切换至导通状态,并且随后第二开关(SW1)响应于第二电源电压(VDD)已经达到足够的电压而切换至导通状态。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,包括:第一端子,所述第一端子与充电电容器的一端连接,所述充电电容器积累从电源输出的电荷并且产生第一电源电压;第二端子,所述第二端子与将第二电源电压供应至第一电路的电源布线的一端连接;第三端子,所述第三端子与平滑电容器的一端连接,所述平滑电容器抑制所述第二电源电压的波动;第一开关,所述第一开关设置在所述第一端子和所述第二端子之间;第二开关,所述第二开关设置在所述第二端子和所述第三端子之间;以及控制电路,所述控制电路控制所述第一开关和所述第二开关的导通/断开状态,其中,在将所述第一开关从断开状态切换至导通状态之后,所述控制电路响应于所述第二电源电压满足一定条件,将所述第二开关从断开状态切换至导通状态,并且其中,所述控制电路包括第一电压检测电路和第二电压检测电路,所述第一电压检测电路控制所述第一开关处于导通状态,直至所述第一电源电压的电压达到第一设定电压,并且随后达到低于所述第一设定电压的第二设定电压,并且所述第二电压检测电路控制所述第二开关处于导通状态,直至所述第二电源电压的电压达到第三设定电压,并且随后达到低于所述第三设定电压的第四设定电压。
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