[发明专利]一种光子计数探测器阵列及其成像方法有效
申请号: | 201510543632.7 | 申请日: | 2015-08-28 |
公开(公告)号: | CN106483548B | 公开(公告)日: | 2019-07-26 |
发明(设计)人: | 罗杰;康小维;崔志立;李运祥;曹红光 | 申请(专利权)人: | 北京纳米维景科技有限公司 |
主分类号: | G01T1/16 | 分类号: | G01T1/16 |
代理公司: | 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 | 代理人: | 陈曦;王鹏丽 |
地址: | 100094 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供了一种光子计数探测器阵列及其成像方法。其中,光子计数探测器阵列包括多个探测器模组,每个探测器模组由两个或多个光子计数探测器单元组成;多个探测器模组在一个平面内排列成一个探测器矩阵;其中,在探测器矩阵中,多个光子计数探测器单元在每列等间距排列并在相邻两列错位排列;或者,多个光子计数探测器单元在每行等间距排列并在相邻两行错位排列。通过平移或旋转上述光子计数探测器阵列,获得两幅错开互补的网状图像;然后将两幅网状图像拼接,可以获得有效成像区域的平面无缝拼接图像。本发明基于三面可拼接光子计数探测器单元形成用于获取平面无缝拼接图像的光子计数探测器阵列,简化了系统设计复杂度,并减小了系统成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 光子 计数 探测器 阵列 及其 成像 方法 | ||
【主权项】:
1.一种光子计数探测器阵列,其特征在于:包括多个探测器模组,每个探测器模组由两个或两个以上的光子计数探测器单元组成;多个所述探测器模组在一个平面内排列成一个探测器矩阵;其中,在所述探测器矩阵中,多个光子计数探测器单元在每行和每列均等间距排列并在相邻两行和相邻两列中错位排列;在每行和每列中,相邻两个所述光子计数探测器单元之间的间距与一个所述光子计数探测器单元的宽度相等;所述光子计数探测器阵列的其余区域为未设置光子计数探测器单元的非探测区域;通过平移或旋转所述光子计数探测器阵列,获得错开互补的网状图像,用于拼接平面无缝拼接图像。
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