[发明专利]一种基于图像复原的工业CT几何尺寸测量方法有效

专利信息
申请号: 201510545714.5 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN105222730B 公开(公告)日: 2017-10-24
发明(设计)人: 闫镔;李磊;张翔;席晓琦;张峰;陈思宇;王敬雨;乔凯 申请(专利权)人: 中国人民解放军信息工程大学
主分类号: G01B15/00 分类号: G01B15/00
代理公司: 郑州大通专利商标代理有限公司41111 代理人: 陈大通
地址: 450052 河*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种基于图像复原的工业CT几何尺寸测量方法,克服了现有技术中,一些工业CT几何尺寸测量方法仍需改进的问题。该发明具体步骤如下(1)投影数据采集;(2)重建射束硬化校正后的CT图像;(3)计算二维PSF;(4)图像复原;(5)几何尺寸测量。与现有技术相比,本发明基于图像复原的工业CT几何尺寸测量方法具有以下优点使用该发明方法复原后的CT图像,其模糊退化效应能得到有效抑制,并且能够获得更好的几何尺寸测量精度。
搜索关键词: 一种 基于 图像 复原 工业 ct 几何 尺寸 测量方法
【主权项】:
一种基于图像复原的工业CT几何尺寸测量方法,其特征在于:具体步骤如下:(1)投影数据采集;包括采集可被X射线穿透的被测量物体和已知尺寸小球一起扫描的投影,小球材料最好与实际被测量物体材料的衰减系数接近,小球中心应与物体被测量区域处于相同高度;判断物体是否穿透的具体方法为,若投影图像背景灰度值为p0,则要求投影图像物体区域的最小灰度值大于(2)重建射束硬化校正后的CT图像;其直接针对步骤(1)中采集的原始投影数据,通过构造指数模型,以带有惩罚项约束的灰度熵为代价函数,使用单纯形法迭代求解射束硬化校正参数,并对射束硬化校正后的投影进行图像重建,其中迭代求解的过程为:Ⅰ对原始投影数据对数变换,得到待校正的投影,并为射束硬化校正参数赋初值;Ⅱ根据指数校正模型,得到相应射束硬化校正参数下校正后的投影图像;Ⅲ重建校正后的CT图像,并计算重建CT图像对应的代价函数值;Ⅳ判断是否满足迭代收敛条件,若满足条件则停止迭代,以当前射束硬化校正参数作为最优解,否则进行下一轮迭代,按照单纯形法迭代更新射束硬化校正参数,重复步骤Ⅱ至步骤Ⅳ;(3)计算二维PSF;其包括针对步骤(2)中经过射束硬化校正后的CT图像,选择小球中心所在的平面,均匀提取过小球中心不同方向的剖线,通过构造一种基于可分离高斯函数的PSF模型,利用黄金分割法迭代求解模型参数;在确定用于计算二维PSF的剖线采集数量时,综合考虑了结构相似性指数和计算时间两个指标,将采集过圆心的剖线数量控制在12‑20之间;(4)图像复原;(5)几何尺寸测量。
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