[发明专利]界面型浮球式液位计密度的修正方法

摘要

一种界面型浮球式液位计密度的修正方法，采用以下校验步骤一对计量标准器具进行检定或校准；二称量出浮球的质量；三测量出浮球圆柱体部分的直径；四测量出浮球的体积；五测量出校验介质水的密度；六列出浮球的重量与在两种介质内的浮力公式；七给出规则圆柱体的体积公式；八推导出浮球浸入下层介质的高度；九推导出浮球浸入校验介质水中的理论高度十计算用水做介质校验界面型浮球式液位计时的高度差即密度修正值Δh。本发明只需通过测量浮球质量、浮球圆柱体部分的直径、浮球体积以及水的密度，再利用密度修正值公式就可以计算出密度修正值，解决了界面型浮球式液位计的密度修正、校验的问题。

主权项

一种界面型浮球式液位计密度的修正方法，其特征在于：采用以下校验步骤：第一步：对计量标准器具进行检定或校准；第二步：称量出浮球的质量m；第三步：测量出浮球圆柱体部分的直径D；第四步：测量出浮球的体积V；第五步：测量出校验介质水的密度ρw；第六步：根据阿基米德定律列出浮球的重量与在两种介质内的浮力公式：mg＝(ρ1V1+ρ2V2)g＝(ρ1πR2h1+ρ2πR2h2)g；式中：ρ1‑‑‑‑浮球浸入到被测介质上层的介质密度，设计要求为已知量；ρ2‑‑‑‑浮球浸入到被测介质下层的介质密度，设计要求为已知量；R‑‑‑‑规则圆柱体的半径；h1‑‑‑‑浮球浸入上层介质的等效高度；h2‑‑‑‑浮球浸入下层介质的等效高度；g‑‑‑‑重力加速度；V1‑‑‑‑浮球浸入到被测介质上层的体积；V2‑‑‑‑浮球浸入到被测介质下层的体积；第七步：给出规则圆柱体的体积公式：V＝πR2hh＝h1+h2；式中：V‑‑‑‑规则圆柱体的体积；R‑‑‑‑规则圆柱体的半径；h‑‑‑‑规则圆柱体的总高度；h1‑‑‑‑浮球浸入上层介质的等效高度；h2‑‑‑‑浮球浸入下层介质的等效高度；第八步：推导出浮球浸入下层介质的高度:h2=m-ρ1VπR2(ρ2-ρ1);]]>式中：m‑‑‑‑浮球的质量；V‑‑‑‑规则圆柱体的体积；R‑‑‑‑规则圆柱体的半径；ρ1‑‑‑‑浮球浸入到被测介质上层的介质密度，设计要求为已知量；ρ2‑‑‑‑浮球浸入到被测介质下层的介质密度，设计要求为已知量；第九步：根据阿基米德定律推导出浮球浸入校验介质水中的理论高度：hw=mπR2ρw;]]>式中：m‑‑‑‑浮球的质量；R‑‑‑‑规则圆柱体的半径；ρw‑‑‑‑用水做介质对界面型浮球式液位计进行校验时水的密度；第十步：计算用水做介质校验界面型浮球式液位计时，由于密度差异引入的高度差即密度修正值△h；Δh=hw-h2=mπR2ρw-m-ρ1VπR2(ρ2-ρ1);]]>式中：m‑‑‑‑浮球的质量；R‑‑‑‑浮球圆柱部分的半径；ρw‑‑‑‑用水做介质对液面型浮球式液位计进行校验时水的密度；V‑‑‑‑浮球的体积；ρ1‑‑‑‑浮球浸入到被测介质上层的介质密度，设计要求为已知量；ρ2‑‑‑‑浮球浸入到被测介质下层的介质密度，设计要求为已知量。