[发明专利]测定方法、磁盘装置的制造方法及磁盘装置有效

专利信息
申请号: 201510547541.0 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN105976840B 公开(公告)日: 2019-02-01
发明(设计)人: 松永俊孝 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: G11B5/84 分类号: G11B5/84;G11B5/56
代理公司: 北京市中咨律师事务所 11247 代理人: 万利军;段承恩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供测定方法,磁盘装置的制造方法以及磁盘装置。该测定方法用于盘装置,该盘装置具备盘和通过向加热器供给电力而向盘突出的头,该测定方法包括:按将盘划分所得的多个区的每个区,由包括事先测定的多个测定值的测定值分布取得基准值,测定中测定对应于盘与头接触时向加热器供给的电力的值,按每个区,取得由测定值分布和取得的基准值算出的数据组,参照每个区的数据组而选择多个区中的具有该数据组的值比其他区小的值的区来作为首先执行所述测定的第一区,基于每个区的数据组来选择第一区的下一个执行所述测定的区。
搜索关键词: 测定 方法 磁盘 装置 制造
【主权项】:
1.一种测定方法,用于盘装置,该盘装置具备盘和通过向加热器供给电力而向所述盘突出的头,该测定方法包括:按将所述盘划分所得的多个区的每个区,根据包括事先测定的多个测定值的测定值分布来取得基准值,所述测定中,测定对应于所述盘与所述头接触时向所述加热器所供给的电力的值,按所述区的每个区,取得根据所述测定值分布和所述取得的基准值而算出的数据组,参照所述每个区的数据组,选择所述多个区中的、具有该数据组的值比其他区小的值的区,来作为首先执行所述测定的第一区,基于所述每个区的数据组来选择所述第一区的下一个执行所述测定的区。
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