[发明专利]基于枝切法和曲面拟合的雷达合成相位解缠方法在审

专利信息
申请号: 201510547714.9 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN105158761A 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 冯大政;杨凡;王逸凡;张妍 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: G01S13/90 分类号: G01S13/90;G01S7/35;G01S7/285
代理公司: 西安睿通知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 61218 代理人: 惠文轩
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于枝切法和曲面拟合的雷达相位解缠方法,其主要思路是:SAR图像经过图像配准后的图像数据与该SAR图像经过图像配准后的图像数据共轭相乘,得到干涉相位图,进而得到干涉相位图的伪相关系数;设定所述干涉相位图的伪相关系数阈值,得到第一质量区域图和第二质量区域图,利用枝切法对第一质量区域图进行相位解缠,得到第一质量区域图的解缠相位,并采用多项式曲面拟合法对干涉相位图的解缠相位进行拟合,得到干涉相位图的多项式拟合函数的系数列向量和存在误差的干涉相位图的解缠相位曲面,采用遗传算法对存在误差的干涉相位图的解缠相位曲面进行优化,得到优化后的干涉相位图的解缠相位曲面,即干涉相位图的最终解缠相位。
搜索关键词: 基于 枝切法 曲面 拟合 雷达 合成 相位 方法
【主权项】:
一种基于枝切法和曲面拟合的雷达相位解缠方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1,将SAR图像经过图像配准后的图像数据与该SAR图像经过图像配准后的图像数据共轭相乘,得到干涉相位图,并得到所述干涉相位图的伪相关系数;设定所述干涉相位图的伪相关系数的阈值,进而将干涉相位图分为第一质量区域图和第二质量区域图;步骤2,利用枝切法对第一质量区域图进行相位解缠,得到第一质量区域图的解缠相位φ'a,b;其中,(a,b)表示第一质量区域图中像素点的坐标;步骤3,利用第一质量区域图的解缠相位φ'a,b,采用多项式曲面拟合法对干涉相位图的解缠相位进行拟合,得到干涉相位图的n阶多项式拟合函数f(x,y)的系数列向量A和存在误差的干涉相位图的解缠相位曲面;步骤4,根据n阶多项式拟合函数f(x,y)的系数列向量A,并采用遗传算法对得到的存在误差的干涉相位图的解缠相位曲面进行优化,得到优化后的干涉相位图的解缠相位曲面,即干涉相位图的最终解缠相位。
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