[发明专利]一种互扰验证中心及互扰验证方法有效
申请号: | 201510548944.7 | 申请日: | 2015-08-31 |
公开(公告)号: | CN106487464B | 公开(公告)日: | 2019-06-18 |
发明(设计)人: | 李颖 | 申请(专利权)人: | 联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司 |
主分类号: | H04B17/345 | 分类号: | H04B17/345;H04B17/391 |
代理公司: | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人: | 成丽杰 |
地址: | 200233 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及测试领域,公开了一种互扰验证中心及互扰验证方法。本发明中,包含以下步骤:A.分别采集干扰源模块工作与否时,待验证模块工作在一频点的接收性能数据,根据所采集的数据验证频点是否为有影响频点;B.如果确定为有影响频点,则记录该频点的各参数信息,并控制衰减器调整验证场景的参数指标,分别采集干扰源模块工作与否时,待验证模块工作在一频点的接收性能数据,直至找到频点的互扰临界点,或者确定频点不存在互扰临界点;C.调整干扰源模块的工作频点,重复步骤A至B,直至干扰源模块的所有工作频点遍历完毕;D.调整待验证模块的工作频点,重复步骤A至C,直至待验证模块的所有工作频点均验证完毕。得以方便快捷高效地进行互扰验证。 | ||
搜索关键词: | 一种 验证 中心 方法 | ||
【主权项】:
1.一种互扰验证方法,其特征在于,包含以下步骤:A.分别采集干扰源模块工作与否时,待验证模块工作在一频点的接收性能数据,根据所采集的数据验证所述频点是否为有影响频点;B.如果确定为有影响频点,则记录该频点的各参数信息,并控制衰减器调整验证场景的参数指标,分别采集干扰源模块工作与否时,待验证模块工作在一频点的接收性能数据,直至找到所述频点的互扰临界点,或者确定所述频点不存在互扰临界点;C.调整所述干扰源模块的工作频点,重复所述步骤A至B,直至所述干扰源模块的所有工作频点遍历完毕;D.调整所述待验证模块的工作频点,重复所述步骤A至C,直至所述待验证模块的所有工作频点均验证完毕。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司,未经联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510548944.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种驻波峰值确定方法和设备
- 下一篇:一种收音机音源自动切换系统和方法