[发明专利]一种弹光调制和电光调制级联测微小线性双折射的装置有效

专利信息
申请号: 201510549341.9 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN105136681B 公开(公告)日: 2017-07-25
发明(设计)人: 李克武;王志斌;李晋华;张瑞;陈友华;杨常青;张敏娟;薛瑞 申请(专利权)人: 中北大学
主分类号: G01N21/23 分类号: G01N21/23
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙)11435 代理人: 申绍中
地址: 030051 山*** 国省代码: 山西;14
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明涉及线性双折射测量的技术领域,具体涉及一种弹光调制和电光调制级联测微小线性双折射的装置;提供一种高速、高精度、高灵敏、操作方便可控、稳定性好和成本低的微小线性双折射的测量装置;检测激光经准直后,依次通过起偏器、弹光调制器、待测量样品和电光调制器,最后经检偏出射到光电探测器,检测信号,经低通滤波得到直流项,并经FPGA数字锁相得到弹光调制基频项数据,直流项数据连同基频项数据传入计算机,最后计算机完成线性双折射数据处理,存储和显示;本发明主要应用在弹光偏振调制方面,能够同时获取线性双折射的幅值和方向,无需机械调节,工作稳定,便于工业化集成,为线性双折射测量及相关应用领域提供了新理论和新方法。
搜索关键词: 一种 调制 电光 级联 微小 线性 双折射 装置
【主权项】:
一种弹光调制和电光调制级联测微小线性双折射的装置,其特征在于:包括检测激光(1)、准直透镜(2)、起偏器(3)、弹光调制器(4)、待检测样品(5)、电光调制器(6)、检偏器(7)、光电探测器(8)、信号采集和数字锁相模块(11)和计算机PC(12),所述准直透镜(2)、起偏器(3)、弹光调制器(4)、待检测样品(5)、电光调制器(6)、检偏器(7)、光电探测器(8)、信号采集和数字锁相模块(11)和计算机PC(12)依次排列;所述信号采集和数字锁相模块(11)包括FPGA、第一采集单元和第二采集单元,所述第一采集单元和第二采集单元分别与FPGA连接;所述光电探测器(8)分别经前置放大器(9)和低通滤波器(10)与第一采集单元和第二采集单元一一对应连接;所述弹光调制器(4)包括弹光晶体和LC谐振高压驱动电路,所述弹光晶体通过LC谐振高压驱动电路与FPGA连接;所述电光调制器(6)包括电光晶体和直流高压驱动电路,所述电光晶体通过直流高压驱动电路与计算机PC(12)连接。
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