[发明专利]半导体器件的FOWLP封装结构及制作方法在审

专利信息
申请号: 201510553045.6 申请日: 2015-09-01
公开(公告)号: CN105244341A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 陆原;陈峰;刘一波;林挺宇 申请(专利权)人: 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498;H01L23/31;H01L23/12;H01L21/48;H01L21/56
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良;韩凤
地址: 214135 江苏省无锡市新区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种半导体器件的FOWLP封装结构及制作方法,该封装结构包括一个或多个带有焊盘的芯片,芯片非主动面通过DAF膜粘接在载板上,芯片四周的空隙填充介电质材料,介电质层的表面高度低于芯片主动面表面;芯片主动面和介电质层顶部覆盖有第一绝缘层,第一绝缘层表面有重布线层,重布线层通过第一绝缘层的开口与芯片主动面的焊盘连接;第一绝缘层和重布线层上面覆盖第二绝缘层;重布线层焊盘上有凸点下金属层,在凸点下金属层上有凸块,所述凸块通过凸点下金属层、重布线层与芯片主动面焊盘形成电连接。本发明仅用一块载板,采用膜辅助成型塑封技术,芯片间隙介电质填充层厚度可控,一次性到位,省略临时键合(拆键合)所需的材料和相应工艺。
搜索关键词: 半导体器件 fowlp 封装 结构 制作方法
【主权项】:
一种半导体器件的FOWLP封装结构,其特征是,包括一个或多个带有焊盘的芯片,所述芯片的主动面朝上,芯片非主动面通过DAF膜粘接在载板上,载板上芯片四周的空隙填充介电质材料形成介电质层,且所述介电质层的表面高度低于芯片主动面表面;所述芯片主动面和介电质层顶部覆盖有第一绝缘层,第一绝缘层在芯片主动面焊盘上有开口;第一绝缘层表面有重布线层,所述重布线层通过第一绝缘层的开口与芯片主动面的焊盘连接;所述第一绝缘层和重布线层上面覆盖第二绝缘层,第二绝缘层在重布线层焊盘上有开口;重布线层焊盘上有凸点下金属层,在凸点下金属层上有凸块,所述凸块通过凸点下金属层、重布线层与芯片主动面焊盘形成电连接。
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