[发明专利]光电子器件ZnO/ZnS异质结纳米阵列膜制备方法有效
申请号: | 201510554660.9 | 申请日: | 2015-09-04 |
公开(公告)号: | CN105070664B | 公开(公告)日: | 2017-11-10 |
发明(设计)人: | 钟文武;李志刚;刘彦平;詹白勺 | 申请(专利权)人: | 台州学院;钟文武;詹白勺 |
主分类号: | H01L21/368 | 分类号: | H01L21/368;H01L21/02;B82Y30/00;B82Y40/00;H01L31/0296 |
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地址: | 318000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及光电子学技术领域,尤其涉及一种光电子器件ZnO/ZnS异质结纳米阵列膜制备方法,包括有清洗衬底、ZnO种子层制备、ZnO纳米棒有序阵列薄膜制备、ZnO/ZnS异质结构纳米阵列制备步骤,本发明具有工艺简单、操作方便、制备温度较低、产品性能优良、适于工程化应用等优点。 | ||
搜索关键词: | 光电子 器件 zno zns 异质结 纳米 阵列 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种光电子器件ZnO/ZnS异质结纳米阵列膜制备方法,其特征在于,包括以下步骤:(a)清洗光电子器件玻璃衬底:先用洗洁精清洗玻璃衬底,然后用浓硫酸煮沸,接着依次分别在无水乙醇和去离子水中超声清洗;(b)ZnO种子层的制备:将二水醋酸锌在室温下溶于乙二醇甲醚和单乙醇胺的混合溶液,二水醋酸锌在溶液中的浓度为0.8 mol/L,醋酸锌与单乙醇胺的摩尔比保持1:1;该混合液置于水浴中控温60℃,磁力搅拌4 小时,得到澄清透明、均匀的溶胶,将制得的溶胶静置陈化24 小时,用于薄膜的涂敷;将步骤(a)清洗后的玻璃片为基底,采用匀胶机旋涂法将静置陈化后的溶胶镀膜,在200℃下烘干,反复多次增加膜厚;然后将试样转移至箱式电阻炉中300℃恒温30 分钟,接着在550℃恒温退火2 小时,炉内自然冷却至室温,即可得到无掺杂的ZnO种子层;(c)ZnO纳米棒有序阵列薄膜的制备:将氨水滴加到搅拌中的硝酸锌溶液中,使氨水与硝酸锌的摩尔比为8:1,硝酸锌在溶液中的浓度为0.06mol/L,接着将经过步骤(b)生长了ZnO种子层的样品放入高压反应釜中,倒入上述溶液,将密封好的反应釜放入烘箱中于50~90℃加热4~9 小时;待烘箱冷却到室温后,将样品取出,并用去离子水冲洗,然后在空气中干燥;(d)ZnO/ZnS异质结构纳米阵列的制备:将1.6g硫脲、4.6g醋酸锌、13.1g异丙醇和14.8g氨水放入烧杯中,并在室温磁力搅拌器中搅拌30分钟,接着将经过步骤(c)生长了ZnO纳米棒薄膜的样品放入高压反应釜中,倒入上述溶液,将密封好的反应釜放入烘箱中于120℃加热4 小时;待烘箱冷却到室温后,将样品取出,并用去离子水冲洗,然后在空气中干燥。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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