[发明专利]设施大棚怕光农作物茎秆、果实尺寸激光测量设备在审
申请号: | 201510555014.4 | 申请日: | 2015-09-01 |
公开(公告)号: | CN105043261A | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 王鸿磊;张雪松;吉智 | 申请(专利权)人: | 徐州工业职业技术学院 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 徐州市三联专利事务所 32220 | 代理人: | 晏荣府 |
地址: | 221000 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种设施大棚怕光农作物茎秆、果实尺寸激光测量设备,涉及植物生长状态检测技术领域。它有一底板,底板上安装有水平仪;底板的一端竖直固定一立柱,底板的另一侧对称竖直固定一测量尺;沿着立柱的中心竖直设置一滑槽,滑槽内安装一沿滑槽滑动的滚轴,滚轴上安装一激光器;测量尺的底端数值小,上端数值大,测量尺以mm为最小单位,每一cm内均匀设有内嵌式倒置数字刻度,每一刻度对应于激光器的端部设有内凹的槽。在不损伤植物的情况下,快速测量出植物茎秆直径;结构简单,测量精度高。 | ||
搜索关键词: | 设施 大棚 农作物 果实 尺寸 激光 测量 设备 | ||
【主权项】:
一种设施大棚怕光农作物茎秆、果实尺寸激光测量设备,其特征在于:包括底板,底板上安装有水平仪;底板的一端竖直固定一立柱,底板的另一侧对称竖直固定一测量尺;沿着立柱的中心竖直设置一滑槽,滑槽内安装一沿滑槽滑动的滚轴,滚轴上安装一激光器;测量尺的底端数值小,上端数值大,测量尺以mm为最小单位,每一cm内均匀设有内嵌式倒置数字刻度,每一刻度对应于激光器的端部设有内凹的槽。
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