[发明专利]一种测量级联辐射过程中最上能级非均匀展宽的装置有效
| 申请号： | 201510560493.9 | 申请日： | 2015-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN105092541B | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | 邹扬;孙永南;韩永建;李传锋;郭光灿 | 申请（专利权）人： | 中国科学技术大学 |
| 主分类号： | G01N21/63 | 分类号： | G01N21/63;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京凯特来知识产权代理有限公司11260 | 代理人： | 郑立明,郑哲 |
| 地址： | 230026 安*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量级联辐射过程中最上能级非均匀展宽的装置，该装置包括Franson型干涉仪系统与反馈控制系统；级联辐射过程发出的光子对经过所述Franson型干涉仪，探测它们的双光子关联信号，从而获得Franson干涉仪系统的干涉条纹，通过改变Franson型干涉仪系统的臂长差，读取各种情况下fanson干涉可见度的大小，从而获得最上能级非均匀展宽的情况；所述反馈控制系统，用于计算Franson型干涉仪系统的相位差的变化，以保持Franson型干涉仪系统的相对稳定。采用本发明公开的装置，可以直接测量出级联辐射最上能级的非均匀展宽，从而扩展了能级研究的范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 级联 辐射 过程 中最上 能级 均匀 展宽 装置 | ||
【主权项】：
一种测量级联辐射过程中最上能级非均匀展宽的装置，其特征在于，该装置包括：Franson型干涉仪系统与反馈控制系统；级联辐射过程发出的光子对经过所述Franson型干涉仪系统，由所述Franson型干涉仪系统探测光子对的双光子关联信号，从而获得Franson干涉仪系统的干涉条纹，通过改变Franson型干涉仪系统的臂长差，读取各种情况下franson干涉可见度的大小，从而获得最上能级非均匀展宽的情况；所述反馈控制系统，用于计算Franson型干涉仪系统的相位差的变化，以保持Franson型干涉仪系统的相对稳定。
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