[发明专利]一种弹性波逆时偏移极性反转的校正方法及系统有效

专利信息
申请号: 201510561256.4 申请日: 2015-09-06
公开(公告)号: CN105242313B 公开(公告)日: 2017-11-07
发明(设计)人: 李志远;马晓娜 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G01V1/36 分类号: G01V1/36
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 代理人: 宋鹰武
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种弹性波逆时偏移极性反转的校正方法及系统。所述校正方法包括步骤a利用各向同性介质中的弹性波方程进行波场重建,得到检波点波场和震源波场;步骤b根据检波点波场和震源波场的偏振矢量分别求取PS偏移剖面和SP偏移剖面对应的极性反转校正因子;步骤c对震源波场和检波点波场进行纵横波的分离,分别得出震源波场和检波点波场的纵波分量和横波分量;步骤d利用震源波场和检波点波场的纵波分量和横波分量做互相关分别得到PS偏移剖面和SP偏移剖面,并将PS偏移剖面和SP偏移剖面分别乘以对应的极性反转校正因子,得到极性反转校正后的PS偏移剖面和SP偏移剖面。本发明易于实现,计算量小,不需要先验信息,分辨率较高。
搜索关键词: 一种 弹性 波逆时 偏移 极性 反转 校正 方法 系统
【主权项】:
一种弹性波逆时偏移极性反转的校正方法,包括:步骤a:利用各向同性介质中的弹性波方程进行波场重建,得到检波点波场和震源波场;步骤b:根据检波点波场和震源波场的偏振矢量分别求取PS偏移剖面和SP偏移剖面对应的极性反转校正因子;步骤c:对震源波场和检波点波场进行纵横波的分离,分别得出震源波场和检波点波场的纵波分量和横波分量;步骤d:利用震源波场的纵波分量和检波点波场的横波分量做互相关得到PS偏移剖面,利用震源波场的横波分量和检波点波场的纵波分量做互相关得到SP偏移剖面,并将PS偏移剖面和SP偏移剖面分别乘以对应的极性反转校正因子,得到极性反转校正后的PS偏移剖面和SP偏移剖面;其中:所述步骤b包括:根据纵横波分离的弹性波方程分别得到检波点波场和震源波场的纵波偏振矢量和横波偏振矢量;根据检波点波场和震源波场的纵波偏振矢量分别获得检波点波场和震源波场的纵波传播方向矢量,并根据检波点波场和震源波场的横波偏振矢量分别获得检波点波场和震源波场的横波传播方向矢量;利用检波点波场的横波传播方向矢量和震源波场的纵波传播方向矢量做叉乘获得PS偏移剖面的极性反转校正因子;并利用检波点波场的纵波传播方向矢量和震源波场的横波传播方向矢量做叉乘获得SP偏移剖面的极性反转校正因子;取一个二维空间窗,在窗口内对PS偏移剖面的极性反转校正因子和SP偏移剖面的极性反转校正因子进行滤波。
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