[发明专利]一种测量颗粒球形度的激光粒度仪及方法有效
| 申请号： | 201510562272.5 | 申请日： | 2015-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN106501137B | 公开（公告）日： | 2019-06-14 |
| 发明（设计）人： | 任中京 | 申请（专利权）人： | 济南微纳颗粒仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 山东众成清泰律师事务所 37257 | 代理人： | 牟迅 |
| 地址： | 250000 山东省济*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种采用激光粒度仪同时测量激光散射或衍射粒度分布与颗粒斯托克斯沉降等效粒度分布，从而导出颗粒的球形度的系统及方法。本发明突破了图像法测定球形度的老问题，创造性地提出了用两种粒度分析结果表征球形度的新思路，具体解决了用激光粒度仪同时获得两种不同原理的粒度分布结果的方法，大大扩展了激光粒度仪的使用领域，本发明操作简单实用，具有广泛实用价值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使用 激光 粒度 测量 颗粒 球形 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量颗粒球形度的激光粒度仪，其特征在于，包括：激光器（9），其发射用于对被测颗粒进行照射的激光束（2）；傅里叶透镜（1），用于会聚光束；样品池（3），用于容纳介质和被测颗粒；光阑（6），用于限制光束，具有光阑孔，光阑孔的大小可调；阵列光电探测器（4），用于接收经过样品池（3）的散射光，所述的阵列光电探测器（4）的中心有一个直径约50至200微米的透光圆孔；颗粒浓度探测器（5），用于记录颗粒的浓度变化；所述颗粒浓度探测器（5）置于阵列光电探测器（4）之后，所述光阑（6）靠近在样品池（3）上位于阵列光电探测器（4）方向的一侧，所述激光器（9）、样品池（3）、傅里叶透镜（1）、阵列光电探测器（4）以及颗粒浓度探测器（5）在光路方向上同轴设置；颗粒的球形度Q= ds/dl，其中ds是沉降法测得的斯托克斯粒径，dl是激光散射或衍射法测得的粒径。
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