[发明专利]样本收集元件及其制作方法和样本收集元件阵列有效

专利信息
申请号: 201510563333.X 申请日: 2015-09-07
公开(公告)号: CN106289929B 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: 张平;陈弘仁 申请(专利权)人: 闳康科技股份有限公司
主分类号: G01N1/36 分类号: G01N1/36
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 马雯雯;臧建明
地址: 中国台湾新竹县竹北*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种样本收集元件及其制作方法和样本收集元件阵列。样本收集元件包括两基板以及一间隔件。各基板具有第一表面以及第二表面,且两基板的第一表面相对设置。间隔件配置于两第一表面之间,用以连接并固定所述两基板,以在两基板之间形成样本容纳空间。此外,各基板包括第一弱化结构,其位于样本容纳空间的外围并且外露于第一表面。
搜索关键词: 样本 收集 元件 及其 制作方法 阵列
【主权项】:
1.一种样本收集元件,其特征在于,该样本收集元件包括:两基板,各该基板具有第一表面以及第二表面,且该两第一表面相对设置;以及一间隔件,配置于该两第一表面之间,用以连接并固定该两基板,以在该两基板之间形成样本容纳空间,各该基板包括第一弱化结构,该第一弱化结构位于该样本容纳空间的外围并且外露于该第一表面,当该第一弱化结构受到外力而被破坏时,位于该第一弱化结构两侧的各该基板的不同部分相互分离。
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