[发明专利]非同轴圆光栅测角装置及其测角方法有效

专利信息
申请号: 201510573679.8 申请日: 2015-09-10
公开(公告)号: CN106524944B 公开(公告)日: 2019-04-09
发明(设计)人: 张书贵;张登鹏;王涛;刘立杰;贾立平;韩素超;张俊爽;白景超;孙建新;杨嘉亮;李红菊 申请(专利权)人: 河北太行计量检测有限公司
主分类号: G01B11/26 分类号: G01B11/26;G01P3/36
代理公司: 石家庄君联专利代理事务所(特殊普通合伙) 13125 代理人: 赵立军
地址: 050000 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种非同轴圆光栅测角装置及其测角方法,具体涉及精密机械领域。本发明包括光栅角度测量结构,所述光栅角度测量结构的外壳体顶部与双向滑轨结构活动连接,所述双向滑轨结构通过外部支撑连接杆和固定架与测试转台外固定部分相连,所述光栅角度测量结构包括圆光栅和读数头,所述双向滑轨结构由两个高精度的线性滑轨垂直活动连接而成。本发明在校准时,光栅角度测量结构固定在转台上,随测试转台转动。测试转台旋转一周,读数头相对圆光栅也旋转一周,且旋转的角速度也相等。通过测量圆光栅的旋转角度和角速度,从而测得测试转台的方位角度和角速度。
搜索关键词: 同轴 圆光 栅测角 装置 及其 方法
【主权项】:
1.一种非同轴圆光栅测角装置,其特征在于:包括光栅角度测量结构,所述光栅角度测量结构的外壳体顶部与双向滑轨结构活动连接,所述双向滑轨结构通过外部支撑连接杆和固定架与测试转台外固定部分相连,所述光栅角度测量结构包括圆光栅和读数头,所述双向滑轨结构由两个高精度的线性滑轨垂直活动连接而成;所述光栅角度测量结构随测试转台转动,外壳体带着读数头相对测试转台台面固定不发生角度变化。
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