[发明专利]制作InSb红外探测器的材料结构及制备方法在审
申请号: | 201510573693.8 | 申请日: | 2015-09-10 |
公开(公告)号: | CN105140333A | 公开(公告)日: | 2015-12-09 |
发明(设计)人: | 赵晓蒙;张杨;曾一平 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L31/105 | 分类号: | H01L31/105;H01L31/0352;H01L31/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种制作InSb红外探测器的材料结构及制备方法,其中所述制作InSb红外探测器的材料结构,其包括:一衬底;一复合缓冲层,其生长在衬底上;一n型InSb重掺杂层,其生长在缓冲层上;一InSb本征吸收层,其生长在n型InSb重掺杂层上;一p型InSb轻掺杂层,其生长在InSb本征吸收层上;一p型AlInSb势垒层,其生长在p型InSb轻掺杂层上;一p型InSb重掺杂层,其生长在p型AlInSb势垒层上。本发明是通过加入势垒层来阻挡电子的移动,降低了InSb红外探测器的在反偏电压下的暗电流和工作时的噪声电流,提高了InSb红外探测器的探测率和最高工作温度,为室温下工作的InSb红外探测器提供了基础。 | ||
搜索关键词: | 制作 insb 红外探测器 材料 结构 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种制作InSb红外探测器的材料结构,其包括:一衬底;一复合缓冲层,其生长在衬底上;一n型InSb重掺杂层,其生长在缓冲层上;一InSb本征吸收层,其生长在n型InSb重掺杂层上;一p型InSb轻掺杂层,其生长在InSb本征吸收层上;一p型AlInSb势垒层,其生长在p型InSb轻掺杂层上;一p型InSb重掺杂层,其生长在p型AlInSb势垒层上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
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H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的