[发明专利]制作InSb红外探测器的材料结构及制备方法在审

专利信息
申请号: 201510573693.8 申请日: 2015-09-10
公开(公告)号: CN105140333A 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 赵晓蒙;张杨;曾一平 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L31/105 分类号: H01L31/105;H01L31/0352;H01L31/18
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种制作InSb红外探测器的材料结构及制备方法,其中所述制作InSb红外探测器的材料结构,其包括:一衬底;一复合缓冲层,其生长在衬底上;一n型InSb重掺杂层,其生长在缓冲层上;一InSb本征吸收层,其生长在n型InSb重掺杂层上;一p型InSb轻掺杂层,其生长在InSb本征吸收层上;一p型AlInSb势垒层,其生长在p型InSb轻掺杂层上;一p型InSb重掺杂层,其生长在p型AlInSb势垒层上。本发明是通过加入势垒层来阻挡电子的移动,降低了InSb红外探测器的在反偏电压下的暗电流和工作时的噪声电流,提高了InSb红外探测器的探测率和最高工作温度,为室温下工作的InSb红外探测器提供了基础。
搜索关键词: 制作 insb 红外探测器 材料 结构 制备 方法
【主权项】:
一种制作InSb红外探测器的材料结构,其包括:一衬底;一复合缓冲层,其生长在衬底上;一n型InSb重掺杂层,其生长在缓冲层上;一InSb本征吸收层,其生长在n型InSb重掺杂层上;一p型InSb轻掺杂层,其生长在InSb本征吸收层上;一p型AlInSb势垒层,其生长在p型InSb轻掺杂层上;一p型InSb重掺杂层,其生长在p型AlInSb势垒层上。
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