[发明专利]一种聚变反应热斑区质子成像方法有效
| 申请号： | 201510573724.X | 申请日： | 2015-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN105280246B | 公开（公告）日： | 2017-05-10 |
| 发明（设计）人： | 谷渝秋;滕建;陈佳;朱斌;张天奎;谭放;洪伟;韩丹 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G21B1/25 | 分类号： | G21B1/25 |
| 代理公司： | 中国工程物理研究院专利中心51210 | 代理人： | 翟长明,韩志英 |
| 地址： | 621999 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种聚变反应热斑区质子成像方法及标定装置和实验装置,使用由永磁铁制造的微型磁四极透镜对聚变反应热斑区产生的质子进行成像，以获得热斑压缩状态信息。该方法包括四个步骤在标定装置中进行的质子成像微型磁四极透镜的标定、在实验装置中进行的微型磁四极透镜物距和像距的调节、等效光学透镜瞄准以及在线实验诊断。本发明适用于激光驱动惯性约束聚变、等离子体放电中子源、Z箍缩等装置中聚变反应热斑区域形状的诊断。本发明对质子源进行直接成像，无需编码和解码过程，不引入数字噪声，相对于编码成像方法，具有更大的接收立体角，可以在低1~2个数量级的质子产额条件下，实现相同的空间分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 聚变 反应热 质子 成像 方法 标定 装置 实验 | ||
【主权项】：
一种聚变反应热斑区质子成像方法，其特征在于，包括如下步骤：a.在标定装置中进行质子成像微型磁四极透镜的标定；b.在实验装置中进行微型磁四极透镜的物距和像距设定；c.在实验装置中进行等效光学透镜瞄准；d.在实验装置中进行实验诊断；所述的标定装置包括串列静电加速器（9）、质子输运系统（10）、真空靶室（11）以及位于真空靶室（11）内的准直孔（12）、微型磁四极透镜（1）、标定网格（2）和质子探测器（3）；所述的串列静电加速器（9）产生的质子束通过质子输运系统（10）注入到真空靶室（11）内，进入真空靶室（11）内的质子束依次通过准直孔（12）、微型磁四极透镜（1）以及紧贴微型磁四极透镜（1）后表面的标定网格（2），成像到与标定网格（2）距离L的质子探测器（3）上；所述的实验装置包括纳秒激光（8）、聚变真空靶室（7）以及位于聚变真空靶室（7）内的聚变靶球（4）、微型磁四极透镜（1）、等效光学透镜（5）、质子探测器（3）和万向调节装置（6）；注入到聚变真空靶室（7）的纳秒激光（8）压缩聚变靶球（4）产生的质子束经过位于万向调节装置（6）上的微型磁四极透镜（1）后成像到质子探测器（3）上；等效光学透镜（5）位于微型磁四极透镜（1）中心位置，并与微型磁四极透镜（1）同轴。
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