[发明专利]对光谱学测量进行规划的方法,磁共振设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 201510575272.9 申请日: 2015-09-10
公开(公告)号: CN105425181B 公开(公告)日: 2018-05-22
发明(设计)人: 威廉·霍尔格;米里亚姆·凯尔 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/56 分类号: G01R33/56;G01R33/483;A61B5/055
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;李慧
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于借助磁共振设备对检查对象的光谱学测量进行规划的方法、一种磁共振设备和一种计算机能读取的存储介质,并且该方法包括以下步骤:‑选择图像数据组,包括检查对象的磁共振测量的至少两个图像,‑确定在至少两个图像的第一图像上的等长和/或等角区域,‑根据在第一图像上和第一图像的图示上确定的等长和/或等角区域选择感兴趣的区域,‑根据选择出的感兴趣区域显示出图像数据组的至少一个另外的第二图像,以及‑根据显示出的图像对光谱学测量进行规划。在优选的设计方案中,该方法还包括去除扭曲校正并且感兴趣的区域包括工作台位置。
搜索关键词: 光谱 测量 进行 规划 方法 磁共振 设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种用于借助磁共振设备(101)对检查对象的光谱学测量进行规划的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:-选择图像数据组,包括所述检查对象的磁共振测量的至少两个图像,-确定在所述至少两个图像的第一图像上的等长和/或等角区域,-根据在所述第一图像上和所述第一图像的图示上确定的所述等长和/或等角区域选择感兴趣的区域,-根据选择出的所述感兴趣区域显示出所述图像数据组的至少一个另外的第二图像,以及-根据显示出的图像对所述光谱学测量进行规划。
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