[发明专利]基于二阶广义全变差的光声显微镜高分辨率图像重构方法在审
| 申请号： | 201510578025.4 | 申请日： | 2015-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN105118038A | 公开（公告）日： | 2015-12-02 |
| 发明（设计）人： | 孙明健;孟静;刘婷;冯乃章;沈毅;伍政华;付颖 | 申请（专利权）人： | 哈尔滨工业大学（威海） |
| 主分类号： | G06T5/00 | 分类号： | G06T5/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 李相雨 |
| 地址： | 264209 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开基于二阶广义全变差的光声显微镜高分辨率图像重构方法，包括：S1、获取光声显微镜低分辨率图像；S2、对所述光声显微镜低分辨率图像进行插值处理，得到插值图像；S3、基于二阶广义全变差，确定优化所述插值图像的优化模型；S4、基于所述优化模型，采用凸优化算法，重构出光声显微镜高分辨率图像。本发明通过利用二阶广义全变差作为约束项结合优化算法从一幅低分辨率的光声显微镜图像中重构出高分辨率的光声显微镜图像，使图像的细节更清晰。本发明通过对已有的低分辨率光声显微镜图像利用图像处理手段进行离线的高分辨率图像重构，从而不需要增加任何的系统成本就能得到高分辨率图像。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 广义 全变差 显微镜 高分辨率 图像 方法 | ||
【主权项】：
基于二阶广义全变差的光声显微镜高分辨率图像重构方法，其特征在于，包括：S1、获取光声显微镜低分辨率图像；S2、对所述光声显微镜低分辨率图像进行插值处理，得到插值图像；S3、基于二阶广义全变差，确定优化所述插值图像的优化模型；S4、基于所述优化模型，采用凸优化算法，重构出光声显微镜高分辨率图像。
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