[发明专利]一种基于光谱分析技术的物质元素含量信息检测方法在审
| 申请号： | 201510579212.4 | 申请日： | 2015-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN106525729A | 公开（公告）日： | 2017-03-22 |
| 发明（设计）人： | 呙星;陈浩;钱惟贤;顾国华;陈钱;任侃;周骁骏;汪鹏程;田杰;张海越 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心32203 | 代理人： | 朱显国 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出一种基于光谱分析技术的物质元素含量信息检测方法。首先通过光谱仪采集原始的光谱数据，再对原始的光谱数据进行处理，然后使用PLS偏最小二乘回归法、BP神经网络法、LSSVM最小二乘支持向量机法将经过预处理后的光谱数据进行建模，最后通过平均残差率、相关系数、预测均方根误差、校正均方根误差、剩余预测偏差等评价指标来对建模效果进行综合评价分析，分析模型预测的精度。本发明实现了基于光谱分析技术的物质元素含量信息检测，不仅可以对所分析、检测的物质没有损伤，而且可以通过采集一次光谱数据便能同时检测物质多个成分的含量或性质，分析和检测速度快、成本低、效率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 光谱分析 技术 物质 元素 含量 信息 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种基于光谱分析技术的物质元素含量信息检测方法，其特征在于，步骤1：通过光谱仪采集原始的光谱数据，并筛选出相关波段的光谱数据；步骤2：对原始的光谱数据进行预处理，以去除光谱数据中的噪声；步骤3：将经过预处理后的光谱数据进行建模，挖掘光谱数据中的定量和定性信息；步骤4：通过评价指标对建模效果进行综合评价分析，分析模型预测的精度，评价指标包括平均残差率、相关系数、预测均方根误差、校正均方根误差、剩余预测偏差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学，未经南京理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201510579212.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
