[发明专利]一种用于集成电路测试的系统及其扫描测试及显示方法有效
| 申请号： | 201510581171.2 | 申请日： | 2015-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN105589028B | 公开（公告）日： | 2018-05-22 |
| 发明（设计）人： | 蒋浩华;吴友凤;钟锋浩 | 申请（专利权）人： | 杭州长川科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于集成电路测试的系统及其扫描测试及显示方法，包括步骤1，电路测试单元测量并采集集成电路参数，集成电路参数为时序数据；步骤2，模数转换单元将采集的集成电路参数进行模数转换；步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成电路参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；步骤4，通信单元将采集的集成电路参数发送至运算单元，运算单元对集成电路参数进行运算加工；步骤5，显示单元接收运算单元运算加工后的集成电路参数并显示。用于集成电路测试的系统及其扫描测试及显示方法能使集成电路时序数据实时显示，并且该系统及方法能实时判定被检测电集成电路是否合格，检测方法方便快捷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 集成电路 测试 系统 及其 扫描 显示 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于集成电路测试的系统的扫描测试及显示方法，其特征是，包括以下步骤：步骤1，电路测试单元测量并采集集成电路参数，集成电路参数为时序数据；步骤2，模数转换单元将采集的集成电路参数进行模数转换；步骤3，主控芯片单元将模数转换后的集成电路参数进行存储并传递给电路参数显示模块的通信单元；步骤4，通信单元将采集的集成电路参数发送至运算单元，运算单元对集成电路参数进行运算加工；步骤5，显示单元接收运算单元运算加工后的集成电路参数并显示；所述的步骤1具体为电路测试单元以设定值为步距采集至少50个点，则集成电路参数为0到步距与至少50个点的乘积的时间内的电路参数时序数据。
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