[发明专利]一种测量校准系统及方法有效
申请号: | 201510581943.2 | 申请日: | 2015-09-11 |
公开(公告)号: | CN105180995B | 公开(公告)日: | 2019-02-19 |
发明(设计)人: | 陈文强;蔡超 | 申请(专利权)人: | 武汉泰利美信医疗科技有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 成都七星天知识产权代理有限公司 51253 | 代理人: | 袁春晓 |
地址: | 430206 湖北省武汉市东湖开发区高新大道66*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明提供了一个测量校准系统及方法,用于测量和校准与对象或环境有关的参数。综合测量系统包括一个存储校准公式的存储器、一个检索来自传感器信息的通信模块、一个检索信息并随后生成校准信息的运算中心。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 校准 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种测量校准系统,其特征在于,包括:存储器,其中存储了校准公式和校准参数;通信模块,用于接收来自传感器的信息或来自外部设备的信息;计算中心,基于所述来自传感器的信息或来自外部设备的信息从所述存储器中选择校准公式,基于所述校准公式和所述来自传感器的信息选择校准参数,并利用所述校准公式和所述校准参数校准所述来自传感器的信息;能量采集模块,所述能量采集模块被配置为从周围环境中收集能量,所述测量校准系统使用所述能量驱动;控制单元,所述控制单元被配置为控制对存储在存储器中的数据的访问,其中所述存储器存储的校准参数包括:第一部分,包括所述传感器接收的信息的测量范围的下限和上限;以及分段参数,所述分段参数将所述测量范围均匀分成两个或以上分段;第二部分,包括所述两个或以上分段,其中第一分段存储初始系数,其余分段存储基于所述初始系数的差异值。
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