[发明专利]采用CCD光敏器件的成像光斑计算方法在审

专利信息
申请号: 201510583225.9 申请日: 2015-09-15
公开(公告)号: CN106524901A 公开(公告)日: 2017-03-22
发明(设计)人: 张炯 申请(专利权)人: 苏州中启维盛机器人科技有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215500 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种采用CCD线阵光敏器件的光斑成像方法,它包括以下步骤对光学信号进行感测得到电信号;求取一帧中灰度最大值的位置P点,以及P点的灰度值MAX;比较MAX与预设的过度曝光阈值SAT;如果MAX小于SAT,求取光斑位置的中心;如果MAX大于或等于SAT,以P点为中心在P左右各取q个像素位置的值与预设的阈值SECTH比较;如果大于阈值SECTH的像素小于预设值W,求取光斑位置的中心;如果大于阈值SECTH的像素个数大于或等于预设值W,搜索最右端的大于SECTH的位置和最左端大于SECTH的位置;以设定的阈值SECTH代入经过拟合的直线,求取饱和信号的起始点m,终点n以及它们之间的距离Le从而得到光斑成像的估计位置。
搜索关键词: 采用 ccd 光敏 器件 成像 光斑 计算方法
【主权项】:
一种CCD光敏器件的光斑成像方法,其特征在于,它包括以下步骤:CCD光敏器件对由光斑经过光学变换得到的光学信号进行感测得到电信号,一个阵列的信号数字化之后形成一个数据帧;从帧开始向帧尾方向,求取一帧中灰度最大值的位置P点,以及P点的灰度值MAX;比较MAX与预设的过度曝光阈值SAT;如果MAX大于或等于SAT,以P点为中心在P左右各取q个像素位置的值与预设的阈值SECTH比较;如果大于阈值SECTH的像素个数大于或等于预设值W,以P为中心分别向左右搜索最右端的大于SECTH的位置和最左端大于SECTH的位置,分别记为D和C,以C为起点向左取k/2像素点,和C点一起做最小二乘直线拟合,求得左边直线的参数,以D为起点向左取k/2像素点,和D点一起做最小二乘直线拟合,求得右边直线的参数;以设定的阈值SECTH代入经过拟合的直线,求取饱和信号的起始点m,终点n以及他们之间的距离Le;基于Le求取得到le;基于le得到光斑成像的估计位置。
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