[发明专利]一种非对称开口环超材料波导结构高Q谐振装置有效
| 申请号： | 201510584538.6 | 申请日： | 2015-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN105116489B | 公开（公告）日： | 2018-08-21 |
| 发明（设计）人： | 洪治;陈航 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院 |
| 主分类号： | G02B6/12 | 分类号： | G02B6/12;G02B6/122 |
| 代理公司： | 杭州浙科专利事务所(普通合伙) 33213 | 代理人： | 吴秉中 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种非对称开口环（SRR）超材料波导结构高Q谐振装置，包括平板波导和位于所述平板波导表面的由金属非对称SRR谐振单元组成的超材料包层。所述超材料谐振单元至少有两个SRR，其中至少有一个非对称SRR。所述非对称SRR的开口中心轴线与SRR的中心轴线的距离s定义为该SRR的不对称度。该谐振装置的超材料包层实现了类似于光栅的衍射功能，而后满足超材料包层平板波导相位匹配条件的电磁波耦合进波导产生导模谐振。通过改变超材料谐振单元内各SRR的不对称度来调节光栅强度，可实现导模谐振强度和Q值的控制。当不对称度很低时，可获得超高Q谐振。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 对称 开口 材料 波导 结构 谐振 装置 | ||
【主权项】：
1.一种非对称开口环超材料波导结构高Q谐振装置，其特征在于，包括：平板波导，所述平板波导包括第一介质层、第二介质层以及位于所述第一介质层和第二介质层之间的第三介质层，其中，所述第一介质层和第二介质层的折射率均小于所述第三介质层的折射率；位于所述平板波导表面的是由多个沿第一方向延伸的金属非对称SRR谐振单元组成的超材料包层，所述谐振单元至少有两个SRR，其中至少有一个非对称SRR，所述谐振单元中相邻SRR之间的距离h为p/m，p为所述谐振单元沿第二方向的周期长度，m为谐振单元内沿第二方向SRR的数量，所述第二方向垂直于所述第一方向。
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