[发明专利]校正呼吸影响的方法,磁共振器和存储介质有效

专利信息
申请号: 201510595562.X 申请日: 2015-09-17
公开(公告)号: CN105445686B 公开(公告)日: 2018-05-22
发明(设计)人: 马里奥·泽勒 申请(专利权)人: 西门子公司
主分类号: G01R33/563 分类号: G01R33/563;G01R33/567;A61B5/055
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;李慧
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于借助磁共振器来校正对检查对象的拍摄的呼吸影响的方法、磁共振器和存储介质,该方法包括下述步骤:确定外部呼吸信号,确定内部呼吸信号,确定关联信号,确定关联信号的至少一个可靠性范围,确定关联信号的至少一个可靠性范围内的拟合函数和根据确定的拟合函数校正在检查对象的呼吸影响下的所述拍摄。在一个优选的实施方式中实现,在确定关联信号的至少一个可靠性范围内的拟合函数之后,实现拟合函数到至少一个如下区间上的扩展,即该区间不与关联函数的至少一个确定的可靠性范围相符,并且根据扩展了的拟合函数来实现对在检查对象的呼吸影响下的拍摄的校正。
搜索关键词: 校正 呼吸 影响 方法 磁共振 存储 介质
【主权项】:
1.一种用于借助磁共振器(101)来校正对检查对象的拍摄的呼吸影响的方法,其特征在于,所述方法包括下述步骤:-确定借助一种不主要用于完成磁共振成像的装置来记录的外部呼吸信号,-确定直接借助所述磁共振器来记录的内部呼吸信号,-确定使所述外部呼吸信号与所述内部呼吸信号相关联的关联信号,-确定所述关联信号的至少一个可靠性范围,-确定所述关联信号的至少一个可靠性范围内的拟合函数和-根据所确定的拟合函数来校正在所述检查对象的呼吸影响下的所述拍摄。
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