[发明专利]半导体激光器阵列单巴实时测试系统及测试方法

摘要

本发明提出一种半导体激光器阵列单巴实时测试系统及测试方法，能够简便、有效地实现阵列工作状态下单巴功率和/或光谱的测试。该半导体激光器阵列单巴实时测试系统，包括半导体激光器阵列、光接收器、光束导光分离器和拖动机构，所述光束导光分离器设置于半导体激光器阵列与光接收器之间的光路上；光束导光分离器的体型只对应一个巴条的出光，使该巴条的出光在光束导光分离器经过至少一次全反射导出，且导出方向与原光路不同；每次测量，光束导光分离器定位于单个巴条前方；光束导光分离器避免其他巴条的干扰。本发明简便、有效地改变被测试单巴出光光路，不影响激光器的正常工作；且系统体积小，重量轻。

主权项

半导体激光器阵列单巴实时测试系统，包括半导体激光器阵列和光接收器，其特征在于：还包括光束导光分离器和拖动机构，所述光束导光分离器设置于半导体激光器阵列与光接收器之间的光路上；光束导光分离器的体型对应于半导体激光器阵列中的单个巴条，光束导光分离器在半导体激光器阵列巴条排布方向上的端面覆有全反射膜，使得：半导体激光器阵列中仅有一个巴条发出的光进入光束导光分离器，并在光束导光分离器内经过全反射后以不同于巴条光轴的方向出射至光接收器，同时所述全反射膜避免邻近巴条的发散光进入光束导光分离器；所述拖动机构用以拖动光束导光分离器遍历各个巴条，光接收器依次接收每一个巴条的出光。