[发明专利]小口径管轧制缺陷超声波探头及配套使用的试块有效

专利信息
申请号: 201510601045.9 申请日: 2015-09-18
公开(公告)号: CN105116057B 公开(公告)日: 2018-11-06
发明(设计)人: 杨必应;凌宏伟 申请(专利权)人: 安徽省特种设备检测院
主分类号: G01N29/24 分类号: G01N29/24;G01N29/30
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人: 何梅生
地址: 230051 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种小口径管轧制缺陷超声波探头,其特征是设置探头壳体,探头壳体的内腔由隔声层分隔为左右对称的入射腔和出射腔,在控头壳体中设置晶片,晶片分别是位于入射腔中的入射晶片,以及位于出射腔中的出射晶片,入射晶片和出射晶片具有相同的结构和性能参数,并且是以隔声层为中心对称设置,以入射晶片和出射晶片构成一收一发的双晶片探头,超声波检测信号通过双晶片探头在被测管管壁中产生直通波回波信号,对于超声波检测信号与直通波回波信号进行比较实现小口径管轧制缺陷的检测。本发明以实现锅炉受热面上管排的快速扫查,并保证检测结果的准确性。
搜索关键词: 小口径 轧制 缺陷 超声波 探头 配套 使用
【主权项】:
1.一种小口径管轧制缺陷超声波探头,其特征是:设置探头壳体,所述探头壳体的内腔由隔声层分隔为左右对称的入射腔和出射腔,在所述探头壳体中设置晶片,所述晶片分别是位于入射腔中的入射晶片,以及位于出射腔中的出射晶片,所述入射晶片和出射晶片具有相同的结构和性能参数,并且是以所述隔声层为中心对称设置,以所述入射晶片和出射晶片构成一收一发的双晶片探头,超声波检测信号通过所述双晶片探头在被测管管壁中产生直通波回波信号,对于所述超声波检测信号与直通波回波信号进行比较实现小口径管轧制缺陷的检测;设置适宜的入射角α和折射角β范围,使直通波回波信号在被测管中反射次数为16次、14次、12次或10次;各种不同反射次数规格的探头在探测同一个缺陷时它对直通波的最小率减量和最大率减量将有所不同;采用不同规格的探头进行比较探测分析,可以准确有效的将缺陷检测出来。
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