[发明专利]自位接触式测量装置及其测量方法有效

专利信息
申请号: 201510602222.5 申请日: 2015-09-21
公开(公告)号: CN105136088B 公开(公告)日: 2018-08-21
发明(设计)人: 杜克强;章陵江 申请(专利权)人: 北京奥特恒达技术开发有限公司
主分类号: G01B21/02 分类号: G01B21/02
代理公司: 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 代理人: 刘洪京
地址: 100166*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了自位接触式测量装置,包括基准测量元件、测量元件、施力元件A、施力元件B、测量传感器、执行装置、导向元件、定位元件、定位装置、驱动装置,基准测量元件内装有导向元件,测量元件安装在导向元件内,基准测量元件和测量元件之间设计有定位装置和施力元件A,测量传感器安装在基准测量元件顶端,其测头与测量元件的上端面相接触,施力元件B置于定位元件与基准测量元件之间,定位元件通过螺栓与执行装置连接,执行装置上安装有驱动装置,执行装置在驱动装置驱动下上下运动。本装置测量精度可大幅度提高,降低了制造精度。
搜索关键词: 接触 测量 装置 及其 测量方法
【主权项】:
1.自位接触式测量装置,包括基准测量元件、测量元件、施力元件A、施力元件B、测量传感器、执行装置、导向元件、定位元件、定位装置、驱动装置,其特征在于:基准测量元件内装有导向元件,测量元件安装在导向元件内,基准测量元件和测量元件之间设计有定位装置和施力元件A,测量传感器安装在基准测量元件顶端,其测头与测量元件的上端面相接触,施力元件B置于定位元件与基准测量元件之间,定位元件通过螺栓与执行装置连接,执行装置上安装有驱动装置,执行装置在驱动装置驱动下上下运动,基准测量元件和测量元件下方放置有由夹具固定夹持的被测物,夹具固定于执行装置的下部,在测量过程中基准测量元件、测量元件与被测物始终自然贴合;命令驱动装置工作,执行装置在驱动装置驱动下向下运动至基准测量元件与被测物的下端面接触,并脱离执行装置止。
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