[发明专利]集成电路分选机测试装置

摘要

本发明涉及集成电路测试领域，目的是提供一种集成电路分选机测试装置。一种集成电路分选机测试装置，包括上端设有横向面板的机架；所述的集成电路分选机测试装置还包括设有位于横向面板上侧的横向导板的横向运动组件，两个竖滑轨，两个各通过一个竖滑轨与横向导板相对两侧端连接的升降立杆，两个各设有一个竖向导板的竖向运动组件，两个取放器，两个横滑轨；每个升降立杆的上端通过一个横滑轨与一个竖向导板连接；每个升降立杆的下端穿过横向面板与一个取放器连接。该集成电路分选机测试装置受力对称，当测试压力较大时不易产生变形，延长使用寿命。

主权项

一种集成电路分选机测试装置，包括：上端设有横向面板的机架；其特征是，所述的集成电路分选机测试装置还包括：设有位于横向面板上侧的横向导板的横向运动组件，两个竖滑轨，两个各通过一个竖滑轨与横向导板相对两侧端连接的升降立杆，两个各设有一个竖向导板的竖向运动组件，两个取放器，两个横滑轨；每个升降立杆的上端通过一个横滑轨与一个竖向导板连接；横向面板设有立杆通孔；每个升降立杆的下端穿过立杆通孔与一个取放器连接；横向运动组件包括：与横向面板枢接的横向丝杆，与横向丝杆螺纹连接的横向螺母，横向驱动装置，设于横向导板和横向面板之间并与横滑轨平行的两个横导轨；横向螺母与横向导板连接；集成电路分选机测试装置使用时，横向运动组件的横向导板带动两个升降立杆横向同步运动，两个升降立杆始终对称位于横向导板的相对两侧，当测试压力较大时受力对称，不易产生变形；每个竖向驱动装置的竖向导板带动一个升降立杆升降。