[发明专利]一种组合定位装置及定位方法有效

专利信息
申请号: 201510604485.X 申请日: 2015-09-21
公开(公告)号: CN105157639B 公开(公告)日: 2017-08-25
发明(设计)人: 付西红;李华;马娜娜;周美英;陈生辉;杜延平 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00;G01B21/20;G01B21/24
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司61211 代理人: 倪金荣
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供了一种组合定位装置及定位方法,组合定位装置包括底板和支撑部;底板上设置有第一导轨,第一导轨与底板平行,第一导轨上设置有第一滑块和第二滑块,第一滑块和第二滑块上分别设置有第一指针式千分表和第二指针式千分表;支撑部,包括横向段和竖直段,横向段与底板固连,竖直段与底板垂直;横向段设有定位孔,定位孔用于安装探针组件的探针座;竖直段设有第二导轨,第二导轨与第一导轨垂直,第二导轨上设置有第三滑块;第三滑块上设有定位头,定位头与横向部平行,定位头用于限位在探针组件磁性吸盘定位槽的中心处。本发明结构简单,定位方法快捷,减少人为测量误差,进一步提高了三坐标测量机的测量效率和应用范围。
搜索关键词: 一种 组合 定位 装置 方法
【主权项】:
一种基于组合定位装置的定位方法,组合定位装置包括底板和支撑部;所述底板上设置有第一导轨,第一导轨与底板平行,第一导轨上设置有第一滑块和第二滑块,第一滑块和第二滑块均能够沿第一导轨的轴向滑动,第一滑块和第二滑块上分别设置有第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6),第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表头均用于与被测工件的基准面接触;所述支撑部,包括横向段和竖直段,横向段与底板固连,竖直段与底板垂直;所述横向段设有定位孔,定位孔用于安装探针组件的探针座,探针座安装在定位孔时,探针组件的连接杆与底板垂直,定位头与探针座的X轴或Y轴垂直;所述竖直段设有第二导轨,第二导轨与第一导轨垂直,第二导轨上设置有第三滑块,第三滑块能够沿第二导轨的轴向滑动;第三滑块上设有定位头,定位头与横向部平行,定位头用于限位在探针组件磁性吸盘定位槽的中心处;所述组合定位装置还包括定位杆,定位孔呈矩形或“十”字形;若定位孔呈矩形,定位孔与三坐标测量机的探针座相适配;或所述定位杆有两个,这两个定位杆分别用于连接在探针座上相对的两个螺纹孔上;若定位孔呈“十”字形,所述定位杆有四个,这四个定位杆分别用于连接在探针座上的四个螺纹孔上;支撑部与底板之间螺纹连接;所述支撑部呈倒“T”形;所述组合定位装置还包括支撑平台,所述底板与支撑平台螺纹连接;其特征在于:包括以下步骤,1)将组合定位装置放置在三坐标测量机的测量区,将标准量块放置在支撑平台上,标准量块包括两个相对的基准面,分别为第一基准面和第二基准面,使三坐标测量机上Z轴的探针与第一基准面接触;2)沿第一导轨长度方向,使用三坐标测量机由第一基准面的一端到另一端,选取至少两个测量点,进行测量,得到的测量结果即为相应测量点对应的在三坐标测量机的Y轴坐标;若这些值均相等,进行步骤3);否则,微微扭动标准量块,重新进行步骤2);3)将标准量块固定;将标准量块的第二基准面与第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表头均接触;若第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表盘读数相等,将第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表盘读数均置零,即完成对组合定位装置的调零,此时,第一导轨与三坐标测量机的X轴平行,第二导轨与三坐标测量机的Z轴平行;若第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表盘读数不相等,微微扭动所述组合定位装置,使第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表盘读数相等,将第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表盘读数均置零,即完成对组合定位装置的调零,此时,第一导轨与三坐标测量机的X轴平行,第二导轨与三坐标测量机的Z轴平行;4)移走标准量块;5)将探针组件的探针座置入定位孔(2‑8)中,然后移动第三滑块;若定位头能限位在探针组件磁性吸盘定位槽的中心处,此时,定位头与探针座的X轴或Y轴垂直,则完成探针组件的找准定位工作;若定位头不能限位在探针组件磁性吸盘定位槽的中心处,则松动磁性吸盘(5‑1)上的定位螺钉(5‑6),旋转磁性吸盘(5‑1),使定位头能够限位在探针组件磁性吸盘定位槽的中心处,此时,定位头与探针座的X轴或Y轴垂直,然后拧紧定位螺钉(5‑6),将定位头限位在探针组件磁性吸盘定位槽的中心处,则完成探针组件的找准定位工作;6)将被测工件(4)放置在支撑平台(3)上,被测工件(4)基准面与第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表头均接触,若第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表盘读数相等,即被测工件(4)找准定位完成,然后保持被测工件(4)不动,利用三坐标测量机测量被测工件(4)的相关形位公差及尺寸;若第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表盘读数不相等,微微扭动所述组合定位装置,使第一指针式千分表(1‑5)和第二指针式千分表(1‑6)的表盘读数相等,即被测工件(4)找准定位完成,然后保持被测工件(4)不动,利用三坐标测量机测量被测工件(4)的相关形位公差及尺寸;其中,步骤5)与步骤6)的顺序是可以互换,也可同时进行。
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