[发明专利]一种平面型STT-MRAM记忆单元及其读写方法有效

专利信息
申请号: 201510608804.4 申请日: 2015-09-22
公开(公告)号: CN105633110B 公开(公告)日: 2019-03-08
发明(设计)人: 夏文斌;郭一民;陈峻;肖荣福 申请(专利权)人: 上海磁宇信息科技有限公司
主分类号: H01L27/22 分类号: H01L27/22;H01L43/08
代理公司: 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 代理人: 于晓菁
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供一种平面型STT‑MRAM记忆单元。此STT‑MRAM记忆单元包括:磁性参考层、磁性记忆层、隧道势垒层、磁晶优化辅助层、置压层和控制线;磁晶优化辅助层与磁性记忆层相邻并且设置于磁性记忆层远离衬底基片的一面;置压层与磁晶优化辅助层相邻并且设置于磁晶优化辅助层远离衬底基片的一面;控制线与置压层相邻并且设置于置压层远离衬底基片的一面。本发明还提供了一种平面型STT‑MRAM的读写方法,包括读操作时,在控制线与位线之间加正向偏置电压,产生的电场使磁性记忆层的垂直各向异性减小,面内各向异性增强;写操作时,在控制线与位线之间加负向偏置电压,产生的电场使磁性记忆层的垂直各向异性增强,面内各向异性减弱。
搜索关键词: 一种 平面 stt mram 记忆 单元 及其 读写 方法
【主权项】:
1.一种平面型STT‑MRAM记忆单元,包括位线和堆叠结构,所述堆叠结构包括:磁性参考层,所述磁性参考层的磁化方向不变且磁各向异性平行于层表面;磁性记忆层,所述磁性记忆层的磁化方向可变且磁各向异性平行于层表面;隧道势垒层,所述隧道势垒层位于所述磁性参考层和所述磁性记忆层之间且分别与所述磁性参考层和所述磁性记忆层相邻;其特征在于,还包括:磁晶优化辅助层,所述磁晶优化辅助层与所述磁性记忆层相邻并且设置于所述磁性记忆层远离衬底基片的一面;置压层,所述置压层与所述磁晶优化辅助层相邻并且设置于所述磁晶优化辅助层远离所述衬底基片的一面;控制线,所述控制线与所述置压层相邻并且设置于所述置压层远离所述衬底基片的一面;所述磁性记忆层与所述位线相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海磁宇信息科技有限公司,未经上海磁宇信息科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510608804.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top