[发明专利]磁阻式角度传感器的检测校正系统在审

专利信息
申请号: 201510609176.1 申请日: 2015-09-23
公开(公告)号: CN106546163A 公开(公告)日: 2017-03-29
发明(设计)人: 池海波;冯昌磊 申请(专利权)人: 上海世德子汽车零部件有限公司
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30;G01D5/12
代理公司: 上海弼兴律师事务所31283 代理人: 胡美强,罗朗
地址: 201605 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种磁阻式角度传感器的检测校正系统,检测校正系统包括PLC、步进电机、传动轴、旋转磁铁、磁阻式角度传感器和MCU;PLC用于设置一设定角度并控制步进电机带动旋转磁铁从一初始位置旋转设定角度;磁阻式角度传感器用于检测旋转磁铁的旋转角度,MCU用于采集旋转角度,并将旋转角度发送至PLC;PLC还用于检测设定角度与旋转角度的差值是否超出一设定范围,若是,则PLC的检测结果为磁阻式角度传感器不合格;若否,则PLC的检测结果为磁阻式角度传感器合格。本发明实现了磁阻式角度传感器的自动化的检测及校正,提高了检测效率和检测精度,操作方便。
搜索关键词: 磁阻 角度 传感器 检测 校正 系统
【主权项】:
一种磁阻式角度传感器的检测校正系统,其特征在于,所述检测校正系统包括PLC、步进电机、传动轴、旋转磁铁、磁阻式角度传感器和MCU;所述PLC分别与所述步进电机和所述MCU电连接,所述步进电机通过所述传动轴与所述旋转磁铁连接,所述MCU与所述磁阻式角度传感器电连接;所述PLC用于设置一设定角度并控制所述步进电机带动所述旋转磁铁从一初始位置旋转所述设定角度;所述磁阻式角度传感器用于检测所述旋转磁铁的旋转角度,所述MCU用于采集所述旋转角度,并将所述旋转角度发送至所述PLC;所述PLC还用于检测所述设定角度与所述旋转角度的差值是否超出一设定范围,若是,则所述PLC的检测结果为所述磁阻式角度传感器不合格;若否,则所述PLC的检测结果为所述磁阻式角度传感器合格。
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