[发明专利]一种外差式偏振干涉光谱成像方法及光谱仪有效

专利信息
申请号: 201510609542.3 申请日: 2015-09-22
公开(公告)号: CN105181141B 公开(公告)日: 2017-09-12
发明(设计)人: 才啟胜;相里斌;韩炜;方煜;程旺;谭政 申请(专利权)人: 中国科学院光电研究院
主分类号: G01J3/45 分类号: G01J3/45;G01J3/447
代理公司: 北京凯特来知识产权代理有限公司11260 代理人: 郑立明,郑哲
地址: 100080 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种外差式偏振干涉光谱成像方法及光谱仪,相关光谱仪包括依次设置的前置镜、准直镜、起偏器、Savart偏光镜、1/4波片、偏振光栅对、分析器、成像镜、面阵探测器以及数据图像处理系统;其中,偏振光栅对使得经过Savart偏光镜后的两束平行光产生了与波数相关的横向剪切量,从而使干涉图产生了外差的特点,降低了干涉图的频率。本发明通过外差技术,使得干涉图的零频对应于光谱图中的σmin波数,即,使得原始σmin到σmax的一段的光谱图移频到0波数附近。这样,如果在保证光谱分辨率不变的情况下,则采样点数会降到N=2(σmax‑σmin)/δσ;而若采样点数保持不变,则光谱分辨率会提高分辨率变为δσ(σmax‑σmin)/σmax。由此可见,本发明的上述方案可通过较少的干涉图采样点数,实现较高的光谱分辨率。
搜索关键词: 一种 外差 偏振 干涉 光谱 成像 方法 光谱仪
【主权项】:
一种外差式偏振干涉成像光谱仪,其特征在于,包括:依次设置的前置镜、准直镜、起偏器、Savart偏光镜、1/4波片、偏振光栅对、检偏器、成像镜、面阵探测器以及数据图像处理系统;其中,前置镜用于将探测目标成像在视场光阑处,所述视场光阑位于准直镜的前焦平面上;所述探测器位于成像镜的后焦面上;偏振光栅对中的两个偏振光栅的刻线密度相同,且他们的刻线方向和刻线平面均互相平行。
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