[发明专利]一种低功耗、零偏压单行载流子光电探测器有效
申请号: | 201510613957.8 | 申请日: | 2015-09-23 |
公开(公告)号: | CN105140330B | 公开(公告)日: | 2017-03-29 |
发明(设计)人: | 黄永清;费嘉瑞;段晓峰;刘凯;王俊;任晓敏;王琦;蔡世伟;张霞 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | H01L31/08 | 分类号: | H01L31/08;H01L31/0304 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种能够工作于零偏压下的低功耗单行载流子光电探测器。该光电探测器由InP半绝缘衬底以及其上的外延层组成。外延层包括InP半绝缘衬底、第一InGaAs腐蚀阻止层、InP次收集层(其上镀有n型接触电极)、第二InGaAs腐蚀阻止层、InP收集层、InGaAsP过渡层、InGaAs吸收层、InAlAs电子阻挡层和InGaAs接触层(其上镀有p型接触电极)。其中在吸收层和电子阻挡层上优选地使用了InAlAs/InGaAs异质结,利用InAlAs的高费米能级和大禁带宽度获得了在零偏压下更好的响应度与相应带宽,并且降低了功耗。 | ||
搜索关键词: | 一种 功耗 偏压 单行 载流子 光电 探测器 | ||
【主权项】:
一种低功耗、零偏压单行载流子光电探测器,其特征在于包括如下结构:半导体衬底,其由InP材料构成,并具有半绝缘特性;外延层,其由InAlAs、InGaAs、InGaAsP及InP材料构成;所述光电探测器以p型掺杂的InAlAs材料作为电子阻挡层;所述光电探测器入光面位于衬底一侧。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的