[发明专利]一种数据校验方法及装置、电子设备有效
申请号: | 201510618715.8 | 申请日: | 2015-09-24 |
公开(公告)号: | CN105183579B | 公开(公告)日: | 2019-09-24 |
发明(设计)人: | 张锦本;徐硕宏;彭耀台;黄树福 | 申请(专利权)人: | 联想(北京)有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人: | 王花丽;张颖玲 |
地址: | 100085*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种数据校验方法及装置、电子设备,所述方法包括:获取256位数据;获取根据第一校验和算法生成的与获取的数据相关的13位第一校验和数据;根据所述第一校验和算法对所述获取的数据进行校验和计算,生成13位第二校验和数据;将所述第一校验和数据和所述第二校验和数据进行比较,获得比较结果;根据所述比较结果确定获取的所述256位数据的正确性。 | ||
搜索关键词: | 一种 数据 校验 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】:
1.一种数据校验方法,包括:将256位数据写入电子设备的数据存储单元的存储区域中,并将从所述存储区域中读取出的256位数据作为获取的数据;根据第一校验和算法对写入的256位数据进行校验和计算,生成13位第一校验和数据;将13位第一校验和数据写入电子设备的数据存储单元的存储区域中;其中,所述13位第一校验和数据是根据数据存储单元中的32个单片器件的不同比特位进行校验和计算得到的;根据所述第一校验和算法对所述获取的数据进行校验和计算,生成13位第二校验和数据;将所述第一校验和数据和所述第二校验和数据进行比较,获得比较结果;根据所述比较结果确定获取的所述256位数据的正确性。
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