[发明专利]芯片标识符自动检查系统与其方法有效

专利信息
申请号: 201510622162.3 申请日: 2015-09-28
公开(公告)号: CN106557709B 公开(公告)日: 2019-05-17
发明(设计)人: 邱浩志 申请(专利权)人: 京元电子股份有限公司
主分类号: G06F21/79 分类号: G06F21/79;G06F21/73
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 任岩
地址: 中国台湾新*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是提供一种芯片标识符自动检查系统,包括:一资料取得装置用以取得一芯片位置资料、一晶圆批号资料、一晶圆刻号资料及一芯片随机码;一处理装置具有一编码模块,用以将该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料进行编码,以形成一芯片标识符;以及一测试装置具有一确认模块,用以测试该芯片标识符是否正常。其中,当该确认模块发现该芯片标识符错误时,该确认模块传送一停止信号使与该系统连接的一探针组静止。
搜索关键词: 芯片 标识符 自动 检查 系统 与其 方法
【主权项】:
1.一种芯片标识符自动检查系统,包括:一晶圆探针装置,具有一探针组;一资料取得装置,具有一控制器、一位置记录模块、一批号读取模块、一刻号读取模块及一随机码产生模块,该控制器与所述模块各自连接并控制所述模块,该位置记录模块连接该探针组以根据该探针组的位置取得一芯片位置资料,该批号读取模块用以读取一晶圆批号资料,该刻号读取模块用以读取一晶圆刻号资料,该随机码产生模块用以产生一芯片随机码;一处理装置,与该资料取得装置连结以取得该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料,并具有一编码模块,用以将该晶圆批号资料、晶圆刻号资料、该芯片随机码及该芯片位置资料编码成一芯片标识符;以及一测试装置,与该处理装置连结以取得该芯片标识符,并具有一确认模块,用以测试该芯片标识符是否正常;其中,当该确认模块发现该芯片标识符错误时,该确认模块传送一停止信号使该探针组静止;其中该芯片标识符自动检查系统还包括具有一比对模块与一资料库的一资料整合装置,该资料整合装置与该测试装置连结,用以取得来自该测试装置的该芯片标识符,该比对模块将该芯片标识符与该资料库中的多笔资料进行比对,当该比对模块发现该芯片标识符与该多笔资料未有重复时,该资料整合装置将该芯片标识符储存至该资料库里。
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