[发明专利]一种热电元件可靠性评价系统及方法有效
申请号: | 201510627115.8 | 申请日: | 2015-09-28 |
公开(公告)号: | CN105203940B | 公开(公告)日: | 2018-12-04 |
发明(设计)人: | 廖锦城;唐云山;黄向阳;吴汀;柏胜强;陈立东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R31/265;G01R31/00 |
代理公司: | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人: | 曹芳玲;姚佳雯 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种热电元器件可靠性评价系统及方法,该系统包括:具备真空腔体的真空装置;用于装夹待测的热电元器件的样品测试装置,所述样品测试装置位于所述真空腔体内,且包括热源和热沉,所述热电元器件位于所述热源与热沉之间;用于控制所述样品测试装置中的所述热源的温度的热端温度控制装置;用于控制所述样品测试装置中的所述热沉的温度的冷端温度控制装置;与所述热电元器件构成串联连接电路并控制所述热电元器件的电流输出的负载装置;与所述负载装置以及所述热电元器件的冷、热侧相连以采集所述热电元器件的测量信号的多通道数据采集装置;与所述负载装置、多通道数据采集装置和热端温度控制装置相连的控制单元。 | ||
搜索关键词: | 一种 热电 元件 可靠性 评价 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种热电元件可靠性评价系统,其特征在于,包括:具备真空腔体的真空装置(6);用于装夹待测的P型、N型热电元件的样品测试装置(8),所述样品测试装置(8)位于所述真空腔体内,且包括热源和热沉,所述P型、N型热电元件位于所述热源与热沉之间;用于控制所述样品测试装置(8)中的所述热源的温度的热端温度控制装置(2);用于控制所述样品测试装置(8)中的所述热沉的温度的冷端温度控制装置(3);与包括P型、N型热电元件的热电器件构成串联连接电路并控制所述热电器件的电流输出的负载装置(4);与所述负载装置(4)相连且与所述P型、N型热电元件的冷、热端导流电极直接相连以采集所述P型、N型热电元件的测量信号的多通道数据采集装置(5);与所述负载装置(4)、多通道数据采集装置(5)和热端温度控制装置(2)相连的控制单元。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海硅酸盐研究所,未经中国科学院上海硅酸盐研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510627115.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。