[发明专利]一种多根并行直流电缆的电老化试验仿真计算方法

摘要

本发明公开了一种多根并行直流电缆的电老化试验仿真计算方法，所述方法包括以下步骤：S100、根据实际的电老化实验平台参数，建立电老化仿真电路模型：S200、设置所述仿真电路模型的部分参数；S300、利用ATP‑EMTP软件对所述仿真电路模型进行仿真计算，得出防止多根并行直流电缆中一个支路击穿引起其他支路击穿的方案，所述方案为在击穿支路上串联一个电阻和一个电感。本发明有效的解决了对于300h、600h和1000h的电缆直流电老化试验，老化发生的分散性比较大，需要对多个试样做电老化试验试验周期比较长的问题。

主权项

1.一种多根并行直流电缆的电老化试验仿真计算方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：S100、根据实际的电老化试验平台的实际设备参数，建立多根并行直流电缆的电老化仿真电路模型；所述电老化仿真电路模型包括：直流电压源、直流电压源的保护电阻、用于等效每根直流电缆的电阻和电容所组成的阻容电路、时控开关S1和S2，以及与每个阻容电路串联的串联电阻r和串联电感L，其中：所述阻容电路为并联方式，其中每根直流电缆的等效电阻和电容为并联方式；每个阻容电路依次串联一个串联电阻和串联电感后，均形成一个支路，所有支路并联连接形成等效并联电路，以等效多根并行直流电缆；所述等效并联电路串联所述保护电阻，并进一步经所述保护电阻串联到所述直流电压源的一端；所述时控开关S1并联到第一支路中直流电缆的等效电阻处，时控开关S1为支路击穿模拟时控开关，支路击穿模拟表现为时控开关S1合上；所述时控开关S2用于模拟熔断器，其一端连接于第一支路的串联电感，另一端连接直流电压源的另一端；S200、设置所述仿真电路模型的参数；S300、利用ATP‑EMTP软件对所述仿真电路模型进行仿真计算，得出防止多根并行直流电缆中一个支路击穿引起其他支路击穿的方案，并据此指导工程实际中的多根并行直流电缆的电老化试验。