[发明专利]一种小直径深孔同轴度检测方法及装置有效
| 申请号： | 201510630006.1 | 申请日： | 2015-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN105300321B | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 薛建兴;王启明;吴明长;高原 | 申请（专利权）人： | 中国科学院国家天文台 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司11003 | 代理人： | 尹振启,袁冰 |
| 地址： | 100012 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种小直径深孔同轴度检测方法，在深孔一端设置靶标坐标采集设备，在深孔中设置检测装置，所述检测装置上设置有若干靶标；所述检测装置在深孔中被推移到不同深度位置停止，所述靶标坐标采集设备在检测装置的停止位置采集所述靶标的坐标值，测量得到该处深孔圆心坐标值，通过不同深度停止位置的圆心坐标值，测量得到深孔轴线在径向方向的变化值，通过不同深度停止位置的靶标坐标值，测量得到深孔直径变化值。所述靶标坐标采集设备采用摄影测量相机，所述靶标被摄影测量相机检测的一面设置在同一平面上，即靶标平面，所述检测装置在深孔中不同深度位置停止后，所述靶标平面与深孔轴线自动垂直。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 直径 同轴 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种小直径深孔同轴度检测方法，其特征在于，在深孔一端设置靶标坐标采集设备，在深孔中设置检测装置，所述检测装置上设置有3个 靶标；所述检测装置在深孔中被推移到不同深度位置停止，所述靶标坐标采集设备在检测装置的停止位置采集所述靶标的坐标值，测量得到该处深孔圆心坐标值，通过不同深度停止位置的圆心坐标值，测量得到深孔轴线在径向方向的变化值，通过不同深度停止位置的靶标坐标值，测量得到深孔直径变化值；所述检测装置上设置有3个支脚，每个支脚上设置1个靶标，3个靶标呈三角形布局，根据深孔直径的变化，其中1个支脚可相对其他两个支脚自动伸缩，使得所述检测装置自动适应深孔直径的变化得到平衡支撑，可伸缩的支脚带动自身的靶标相对其他两个靶标自动移动，可伸缩的支脚与其他两个支脚构成等腰三角形结构。
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