[发明专利]一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法有效

专利信息
申请号: 201510634072.6 申请日: 2015-09-29
公开(公告)号: CN105182210B 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: 成达;张蓬鹤;薛阳;郜波;赵越;秦程林;石二微;王雅涛;谭琛;陈盛;曹杰明;赵立涛;张世安;米沛红 申请(专利权)人: 中国电力科学研究院;国家电网公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 100192 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法,所述通用接口包括:微处理器及其外部电路;所述外部电路包括SPI接口、UART接口、IIC接口、GPIO连接口和以太网接口;所述通用接口一端与SPI、UART、IIC、GPIO接口相连接,另一端与对外的总线插座连接;所述以太网接口与所述微处理器的MAC接口相连接。本发明提供的技术方案将嵌入式产品中常用的数字接口统一设计,使用一组简单的规约,实现了通过规约对多种电气通讯接口的读写控制。
搜索关键词: 一种 计量 芯片 测试 装置 通用 接口 及其 实现 方法
【主权项】:
1.一种计量芯片测试装置的通用接口,其特征在于,所述通用接口包括:微处理器及其外部电路;所述外部电路包括SPI接口、UART接口、IIC接口、GPIO连接口和以太网接口;所述通用接口一端分别与SPI、UART、IIC、GPIO接口相连接,另一端与对外的总线插座连接;所述以太网接口与所述微处理器的MAC接口相连接;实现方法包括:(一)微处理器分别向SPI、UART、IIC以及GPIO接口发出测试信号并遍历所有通讯速率以及寄存器地址,查询是否有返回的应答信号;(二)若搜索到应答信号,则建立该应答信号的物理层信道,微处理器将信道建立的信息通过以太网接口传输到上位机,并接收上位机下发的数据,直至收到中断标志位置位命令;(三)微处理器中的协议处理函数校验数据完整性,然后通过数据帧的控制码判断该数据帧属于何种接口的数据帧;(四)微处理器根据数据帧类型控制相关接口的寄存器,实现相关接口的配置和数据读写。
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