[发明专利]一种半导体芯片的切割方法有效

专利信息
申请号: 201510635391.9 申请日: 2015-09-30
公开(公告)号: CN105234560B 公开(公告)日: 2017-10-27
发明(设计)人: 彭康伟;林素慧;许圣贤;林潇雄;何安和;郑建森 申请(专利权)人: 厦门市三安光电科技有限公司
主分类号: B23K26/38 分类号: B23K26/38;B23K26/402;H01L21/78
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 361009 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种半导体芯片的切割方法,包括以下工艺步骤提供一半导体晶圆片及一提供激光的激光器;在所述半导体晶圆片上定义出切割道,并形成掩膜层;所述激光穿过与切割道位置上下对应的掩膜层,用于切割半导体晶圆片,形成半导体芯片;所述用于切割半导体晶圆片的激光为多单元方形激光束,所述掩膜层分为M个区域,每个区域包括N个单元,且每个区域对应一次待方形激光切割。将传统的半导体芯片线性激光切割改为方形激光切割,并且在半导体芯片与方形激光间增设具有若干个区域的掩膜层,每个区域对应一次待方形激光切割,即一次性达成多个芯片单元的切割工艺,增加单位时间产能。
搜索关键词: 一种 半导体 芯片 切割 方法
【主权项】:
一种半导体芯片的切割方法,包括以下工艺步骤:(1)提供一半导体晶圆片及一提供激光的激光器;(2)在所述半导体晶圆片上定义出切割道,并形成掩膜层;(3)所述激光穿过与切割道位置上下对应的掩膜层,用于切割半导体晶圆片,形成半导体芯片;其特征在于:所述用于切割半导体晶圆片的激光为多单元方形激光束,所述掩膜层分为M个区域,每个区域包括N个单元,且每个区域对应一次待方形激光切割;在所述掩膜层的单元图案中,各单元相邻的内界线以及各单元外界线为激光穿透部分,而各单元的其余部分为非激光穿透部分。
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