[发明专利]绝缘栅双极型晶体管及其制备方法在审
申请号: | 201510636248.1 | 申请日: | 2015-09-30 |
公开(公告)号: | CN105322003A | 公开(公告)日: | 2016-02-10 |
发明(设计)人: | 赵喜高 | 申请(专利权)人: | 深圳市可易亚半导体科技有限公司 |
主分类号: | H01L29/739 | 分类号: | H01L29/739;H01L29/06;H01L21/331 |
代理公司: | 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 | 代理人: | 廉红果;温洁 |
地址: | 518000 广东省深*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种绝缘栅双极型晶体管及其制备方法,所述绝缘栅双极型晶体管包括半导体衬底,在所述半导体衬底的正面外延生长成的N-漂移区;在上述N-漂移区上制备形成栅极和发射极的上部端子;在所述半导体衬底的背面形成集电极的下部端子;在半导体衬底表面形成栅极结构处设有刻蚀沟槽,在所述刻蚀沟槽内注入P型掺杂剂,P型掺杂剂扩散形成P型屏蔽层。本发明公开的绝缘栅双极型晶体管通过在栅极的下方加入一个P型屏蔽层,能缓解现有的IGBT导通压降大的问题,并消除关断时P型基区和N-漂移区的曲面发生的电场集中,从而能提高击穿电压,确保IGBT工作过程中的可靠性。 | ||
搜索关键词: | 绝缘 栅双极型 晶体管 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种绝缘栅双极型晶体管,其特征在于:包括半导体衬底,在所述半导体衬底的正面外延生长成的N‑漂移区;在上述N‑漂移区上制备形成的栅极和发射极的上部端子;在所述半导体衬底的背面形成包括集电极的下部端子;在半导体衬底表面形成栅极结构处设有刻蚀沟槽,在所述刻蚀沟槽内注入P型掺杂剂,P型掺杂剂扩散形成P型屏蔽层。
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