[发明专利]激光头热特性的测量装置在审

专利信息
申请号: 201510638979.X 申请日: 2015-09-29
公开(公告)号: CN105157956A 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 黄文发;李学春;王江峰;卢兴华;黄庭瑞;汪超 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01M11/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯;张宁展
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种激光头热特性测量装置,包括被测激光头、准直光源、起偏器、焦距可调扩束器、反射镜、二色分光镜、焦距可调缩束器、检偏器、衰减片、波前探测单元、锗物镜和热像仪。本发明简单易行、通用性强,可以匹配不同口径的激活介质,能同时适用于侧面泵浦以及端面泵浦固体激光器中热特性的测量,包括:温度分布、热致双折射退偏和热致波前畸变,测量精度高。
搜索关键词: 激光头 特性 测量 装置
【主权项】:
一种激光头热特性的测量装置,其特征在于,该装置包括:被测激光头(1)、探测光源(2)、起偏器(3)、焦距可调扩束器(4)、反射镜(4)、二色分光镜(6)、焦距可调缩束器(7)、检偏器(8)、衰减片(9)、波前探测单元(10)、锗物镜(12)和热像仪(13),沿所述的探测光源(2)的激光输出方向依次是所述的起偏器(3)、焦距可调扩束器(4)、反射镜(5)和二色分光镜(6),所述的反射镜(5)、二色分光镜(6)与所述的光路成45°,在所述的二色分光镜(6)的反射光方向依次是所述的焦距可调缩束器(7)、检偏器(8)、衰减片(9)和波前探测单元(10),在所述的二色分光镜(6)的透射方向依次是所述的锗物镜(12)和热像仪(13)。
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